KCI등재
HVPE 방법에 의한 금속 화합물 탄소체 기판 위의 GaN 성장 = The growth of GaN on the metallic compound graphite substrate by HVPE
저자
김지영 (한국해양대학교) ; 이강석 (한국해양대학교) ; 박민아 (한국해양대학교) ; 신민정 (한국해양대학교) ; 이삼녕 (한국해양대학교) ; 양민 (한국해양대학교) ; 안형수 (한국해양대학교) ; 유영문 (부경대학교) ; 김석환 (안동대학교) ; 이효석 (L&L.Co., Ltd) ; 강희신 (CSsol.Co., Ltd) ; 전헌수 (나고야대학교) ; Kim, Ji Young ; Lee, Gang Seok ; Park, Min Ah ; Shin, Min Jeong ; Yi, Sam Nyung ; Yang, Min ; Ahn, Hyung Soo ; Yu, Young Moon ; Kim, Suck-Whan ; Lee, Hyo Suk ; Kang, Hee Shin ; Jeon, Hun Soo ; Sawaki, Nobuhiko
발행기관
학술지명
한국결정성장학회지(Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology )
권호사항
발행연도
2013
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI등재,ESCI
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
213-217(5쪽)
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3
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제공처
GaN는 대표적인 III-V족 질화물반도체로 주로 값싸고 다루기 쉬운 사파이어 기판 위에 성장된다. 하지만 사파이어 기판은 부도체이며, GaN과의 격자부정합을 일으키고 열전도도 또한 낮은 기판으로 알려져 있다. 본 논문에서는 방열기능과 열 전기전도도가 뛰어난 금속 화합물 탄소체 기판 위에 poly GaN epilayer를 HVPE법으로 성장시켜보았다. 비정질의 금속 화합물 탄소체 기판위에 성장되는 GaN epilayer의 성장메카니즘을 관찰하였다. GaN epilayer의 성장을 위해 HCl과 $NH_3$를 흘려주었다. 성장하기 위해 source zone과 growth zone의 온도는 각각 $850^{\circ}C$와 $1090^{\circ}C$로 설정했다. 성장이 끝난 샘플은 SEM, EDS, XRD측정을 통해 분석하였다.
더보기The GaN layer was typical III-V nitride semiconductor and was grown on the sapphire substrate which cheap and convenient. However, sapphire substrate is non-conductivity, low thermal conductivity and has large lattice mismatch with the GaN layer. In this paper, the poly GaN epilayer was grown by HVPE on the metallic compound graphite substrate with good heat dissipation, high thermal and electrical conductivity. We tried to observe the growth mechanism of the GaN epilayer grown on the amorphous metallic compound graphite substrate. The HCl and $NH_3$ gas were flowed to grow the GaN epilayer. The temperature of source zone and growth zone in the HVPE system was set at $850^{\circ}C$ and $1090^{\circ}C$, respectively. The GaN epilayer grown on the metallic compound graphite substrate was observed by SEM, EDS, XRD measurement.
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2012-03-29 | 학술지명변경 | 외국어명 : Jounal of Korea Associaiton of Crystal Gorwth -> Journal of the Korean Crystal Growth and Crystal Technology | KCI등재 |
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2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2005-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2002-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
1999-07-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
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2016 | 0.24 | 0.24 | 0.23 |
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