KCI등재
안전한 PUF 응답 전송을 위한 노이즈 삽입 및 복구 알고리즘 하드웨어 설계
저자
발행기관
학술지명
전자공학회논문지(Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers )
권호사항
발행연도
2017
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI등재
자료형태
학술저널
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49-59(11쪽)
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0
제공처
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Physical Unclonable Functions(PUFs)는 반도체 공정에서 발생하는 미세한 차이로 인해 각 디바이스가 갖게 되는 고유의 특성을 이용하는 기술이다. 디바이스의 인증이나 식별에 사용하기 위하여 PUF 회로의 입력이 되는 챌린지(challenge)와 출력이 되는 응답(response) 쌍들을 구축하여 디바이스와 인증기 간에 주고받는다. 하지만 이러한 과정 중 직⋅간접적으로 노출되는 챌린지와 응답을 수집하여 분석하는 모델링 공격을 통해 PUF를 재구현하여 디바이스 복제가 가능하다. 본 논문에서는 PUF의 출력에 의도적으로 노이즈를 삽입하여 챌린지/응답 분석 난이도를 높이는 방법을 제안한다. 의도된 노이즈가 삽입된 응답 생성을 위해서 노이즈 생성 및 삽입 제어가 가능한 arbiter-PUF 회로를 구성하고, 인증 시 의도된 노이즈에 영향을 받지 않고 응답을 복구하는 Low-Density Parity-Check(LDPC) 코드 디코더를 사용한다. 실험을 통하여 삽입된 노이즈에 의해서 실제 등록에 사용되는 응답과 외부로 노출되는 응답간의 발생하는 차이 분석 결과를 제시하고 하드웨어 오버헤드를 줄일 수 있음을 보인다.
더보기Physical Unclonable Functions (PUFs) exploit characteristics of sophisticated variations generated from manufacturing process. In authentication and identification systems using PUFs, there are a great number of inputs (challenge) and outputs (response) pairs. Because challenge/response pairs (CRPs) are directly or indirectly exposed in verification process, specific PUF circuits can be reproduced by modeling attacks that gather and analyze challenge/response pairs. In this paper, we propose a method that makes it more difficult to analyzing CRPs by intendedly injecting noise in responses. We modify an arbiter-based PUF circuit so that it can generate intended noise and control the noise locations in responses and use a Low-Density Parity-Check (LDPC) decoding algorithm to stabilize responses in the proposed authentication structure. Our experimental results show the differences in bit streams between actual responses and noisy responses in the proposed scheme. Futhermore, hardware overheads of devices can be reduced in the authentication structure using the proposed arbiter-PUF.
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연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
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2023 | 평가예정 | 계속평가 신청대상 (등재유지) | |
2018-01-01 | 평가 | 우수등재학술지 선정 (계속평가) | |
2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2014-12-11 | 학술지명변경 | 외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea -> Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers | KCI등재 |
2014-01-21 | 학회명변경 | 영문명 : The Institute Of Electronics Engineers Of Korea -> The Institute of Electronics and Information Engineers | KCI등재 |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2005-10-17 | 학술지명변경 | 한글명 : 대한전자공학회 논문지 -> 전자공학회논문지 | KCI등재 |
2005-05-27 | 학술지등록 | 한글명 : 대한전자공학회 논문지외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea | KCI등재 |
2005-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2002-07-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2000-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.27 | 0.27 | 0.25 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.22 | 0.19 | 0.427 | 0.09 |
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