KCI등재
SCOPUS
실리카졸의 이온전도도 변화에 따른 사파이어 웨이퍼의 연마 특성 = Characteristics of Sapphire Wafers Polishing Depending on Ion Conductivity of Silica Sol
저자
나호성 (한국세라믹기술원) ; 조경숙 (한국세라믹기술원) ; 이동현 (한국세라믹기술원) ; 박민경 (한국세라믹기술원) ; 김대성 (한국세라믹기술원) ; 이승호 (한국세라믹기술원) ; Na, Ho Seong ; Cho, Gyeong Sook ; Lee, Dong-Hyun ; Park, Min-Gyeong ; Kim, Dae Sung ; Lee, Seung-Ho
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2015
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Korean
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KCI등재,SCOPUS,ESCI
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학술저널
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21-26(6쪽)
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CMP(Chemical Mechanical Polishing) Processes have been used to improve the planarization of the wafers in the semiconductor manufacturing industry. Polishing performance of CMP Process is determined by the chemical reaction of the liquid sol containing abrasive, pressure of the head portion and rotational speed of the polishing pad. However, frictional heat generated during the CMP process causes agglomeration of the particles and the liquidity degradation, resulting in a non-uniform of surface roughness and surface scratch. To overcome this chronic problem, herein, we introduced NaCl salt as an additive into silica sol for elimination the generation of frictional heat. The added NaCl reduced the zata potential of silica sol and increased the contact surface of silica particles onto the sapphire wafer, resulting in increase of the removal rate up to 17 %. Additionally, it seems that the silica particles adsorbed on the polishing pad decreased the contact area between the sapphire water and polishing pad, which suppressed the generation of frictional heat.
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2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2005-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2002-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
1999-07-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.15 | 0.15 | 0.14 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.14 | 0.13 | 0.255 | 0.03 |
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