KCI등재
CHANGES IN ADHESION OF STREPTOCOCCUS MUTANS TO NANOCOMPOSITE RESINS AFTER ACIDULATED PHOSPHATE FLUORIDE GEL APPLICATION = 나노컴포지트에서 Acidulated Phosphate Fluoride 적용에 따른 Streptococcus mutans 부착량 변화
저자
Jung, Young-Jung (Department of Pediatric Dentistry, College of Dentistry and Dental research Institute, Seoul National University) ; Kim, Young-Jae (Department of Pediatric Dentistry, College of Dentistry and Dental research Institute, Seoul National University) ; Kim, Jung-Wook (Department of Pediatric Dentistry, College of Dentistry and Dental research Institute, Seoul National University) ; Jang, Ki-Taeg (Department of Pediatric Dentistry, College of Dentistry and Dental research Institute, Seoul National University)
발행기관
학술지명
大韓小兒齒科學會誌(JOURNAL OF THE KOREAN ACADEMY OF PEDIATRIC DENTISTRY )
권호사항
발행연도
2005
작성언어
English
주제어
KDC
516.000
등재정보
KCI등재
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
427-436(10쪽)
KCI 피인용횟수
0
제공처
복합레진 표면에 대한 APF gel 도포는 표면을 거칠게 하고 세균 부착을 증가시킨다. 본 연구는 Filtek Z250(FZ), Filtek Supreme Universal(FS)과, 실험적으로 나노충전재를 각각 0%, 3%, 6% 포함시켜 만든 복합레진(E0, E3, E6)으로 제작한 레진 시편을, APF gel을 적용한 군과 적용하지 않은 군으로 나누어 Streptococcus mutans의 부착량과 표면 조도를 측정하고 비교, 평가하여 다음과 같은 결과를 얻었다.
1. APF gel을 적용하지 않은 레진 시편에 대한 S. mutans 부착량은 FS에서 가장 적었고, FZ, E3, E6에 대한 부착량보다는 유의하게 낮았다(p<0.05).
2. 모든 레진군에서 APF gel을 적용한 레진 시편에 대한 S. mutans 부착량은 APF gel을 적용하지 않은 시편에 대한 부착량보다 유의하게 높았다(p<0.05).
3. APF gel을 적용한 레진 시편에 대한 S. mutans 부착량은 레진군간 유의한 차이를 보였으며(p<0.05), FS, FZ, E0, E3, E6의 순서로 높은 값을 보였다.
4. APF gel 적용 전이나 후에, 레진군간 표면조도의 차이는 유의하지 않았다(p>0.05).
Topical application of APF gel can increase the surface roughness of resin composites and the roughened surfaces may allow increased bacterial accumulation and surface staining. Resin specimens of two proprietary resin composites, Filtek Z250(FZ) and Filtek Supreme Universal(FS), and experimental resin composites containing 0%, 3%, 6% nanofillers(E0, E3, E6) were fabricated and divided into two groups of the same number: APF treatment group and no treatment group. The amount of S. mutans adhered to specimens and the mean surface roughness(Ra) were measured. The results were as follows;
1. In no treatment group, the amount of S. mutans adhered to FS was the smallest. It was significantly different from those of FZ, E3, E6(p<0.05) although it was not significantly different from that of E0(p>0.05).
2. For all resin composites used, the amount of S. mutans adhesion in APF treatment group was significantly greater than that in no treatment group(p<0.05).
3. In APF treatment group, the amount of S. mutans adhesion was significantly different between materials(p<0.05), and increased in order of FS, FZ, E0, E3 and E6.
4. Difference of the surface roughness(Ra) between materials was not statistically significant in both no treatment group and APF treatment group(p>0.05)
분석정보
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2027 | 평가예정 | 재인증평가 신청대상 (재인증) | |
2021-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (재인증) | KCI등재 |
2018-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (계속평가) | KCI등재 |
2017-12-01 | 평가 | 등재후보로 하락 (계속평가) | KCI후보 |
2013-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2010-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2008-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2006-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2003-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2002-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | KCI후보 |
2001-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.39 | 0.39 | 0.37 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.36 | 0.35 | 0.399 | 0.05 |
서지정보 내보내기(Export)
닫기소장기관 정보
닫기권호소장정보
닫기오류접수
닫기오류 접수 확인
닫기음성서비스 신청
닫기음성서비스 신청 확인
닫기이용약관
닫기학술연구정보서비스 이용약관 (2017년 1월 1일 ~ 현재 적용)
학술연구정보서비스(이하 RISS)는 정보주체의 자유와 권리 보호를 위해 「개인정보 보호법」 및 관계 법령이 정한 바를 준수하여, 적법하게 개인정보를 처리하고 안전하게 관리하고 있습니다. 이에 「개인정보 보호법」 제30조에 따라 정보주체에게 개인정보 처리에 관한 절차 및 기준을 안내하고, 이와 관련한 고충을 신속하고 원활하게 처리할 수 있도록 하기 위하여 다음과 같이 개인정보 처리방침을 수립·공개합니다.
주요 개인정보 처리 표시(라벨링)
목 차
3년
또는 회원탈퇴시까지5년
(「전자상거래 등에서의 소비자보호에 관한3년
(「전자상거래 등에서의 소비자보호에 관한2년
이상(개인정보보호위원회 : 개인정보의 안전성 확보조치 기준)개인정보파일의 명칭 | 운영근거 / 처리목적 | 개인정보파일에 기록되는 개인정보의 항목 | 보유기간 | |
---|---|---|---|---|
학술연구정보서비스 이용자 가입정보 파일 | 한국교육학술정보원법 | 필수 | ID, 비밀번호, 성명, 생년월일, 신분(직업구분), 이메일, 소속분야, 웹진메일 수신동의 여부 | 3년 또는 탈퇴시 |
선택 | 소속기관명, 소속도서관명, 학과/부서명, 학번/직원번호, 휴대전화, 주소 |
구분 | 담당자 | 연락처 |
---|---|---|
KERIS 개인정보 보호책임자 | 정보보호본부 김태우 | - 이메일 : lsy@keris.or.kr - 전화번호 : 053-714-0439 - 팩스번호 : 053-714-0195 |
KERIS 개인정보 보호담당자 | 개인정보보호부 이상엽 | |
RISS 개인정보 보호책임자 | 대학학술본부 장금연 | - 이메일 : giltizen@keris.or.kr - 전화번호 : 053-714-0149 - 팩스번호 : 053-714-0194 |
RISS 개인정보 보호담당자 | 학술진흥부 길원진 |
자동로그아웃 안내
닫기인증오류 안내
닫기귀하께서는 휴면계정 전환 후 1년동안 회원정보 수집 및 이용에 대한
재동의를 하지 않으신 관계로 개인정보가 삭제되었습니다.
(참조 : RISS 이용약관 및 개인정보처리방침)
신규회원으로 가입하여 이용 부탁 드리며, 추가 문의는 고객센터로 연락 바랍니다.
- 기존 아이디 재사용 불가
휴면계정 안내
RISS는 [표준개인정보 보호지침]에 따라 2년을 주기로 개인정보 수집·이용에 관하여 (재)동의를 받고 있으며, (재)동의를 하지 않을 경우, 휴면계정으로 전환됩니다.
(※ 휴면계정은 원문이용 및 복사/대출 서비스를 이용할 수 없습니다.)
휴면계정으로 전환된 후 1년간 회원정보 수집·이용에 대한 재동의를 하지 않을 경우, RISS에서 자동탈퇴 및 개인정보가 삭제처리 됩니다.
고객센터 1599-3122
ARS번호+1번(회원가입 및 정보수정)