KCI등재
여러 탄화조건에 따라 성장된 단결정 3C-SiC 박막의 특성 = Properties of Single Crystalline 3C-SiC Thin Films Grown with Several Carbonization Conditions
저자
심재철 (울산대학교 전기전자정보시스템공학부) ; 정귀상 (울산대학교) ; Shim, Jae-Cheol ; Chung, Gwiy-Sang
발행기관
학술지명
전기전자재료학회논문지(Journal of the Korean institute of electrical and electronic material engineers)
권호사항
발행연도
2010
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI등재
자료형태
학술저널
수록면
837-842(6쪽)
KCI 피인용횟수
1
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제공처
This paper describes the crystallinity, growth rate, and surface morphology of single crystalline 3C-SiC (cubic silicon carbide) thin films grown with several carbonization conditions such as temperature, $C_3H_8$ flow rate, time. In case of carbonization, an increase in the carbonization temperature caused a increase in the size and numbers of unsealed void (big black spot) which decrease the crystallinity. In addition, optimal $C_3H_8$ flow rate made carbonization layer form well and prevented the formation of voids. Also, after a period of time, the growth of carbonization layer did not increase no more. The single crystalline 3C-SiC thin films on optimal carbonized Si substrate showed an improvement on the crystallinity, the growth rate, the roughness, and the carrier concentration.
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2005-05-30 | 학회명변경 | 영문명 : 미등록 -> The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers | KCI등재 |
2004-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2001-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
1998-07-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
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2016 | 0.13 | 0.13 | 0.13 |
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0.14 | 0.14 | 0.247 | 0.06 |
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