SCOPUS
KCI등재
고전압 펄스 전기장에 의한 Saccharomyces cerevisiae의 세포내ㆍ외적 사멸 기작 연구
저자
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학술지명
권호사항
발행연도
2015
작성언어
Korean
주제어
KDC
594
등재정보
SCOPUS,KCI등재
자료형태
학술저널
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수록면
87-94(8쪽)
KCI 피인용횟수
1
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비가열 살균 기술 중 본격적인 상업적 실용화를 눈앞에 두고 있는 고전압 펄스 전기장에 의한 미생물의 사멸 기작에 대해 살펴보았다. 세포 현탁액을 고전압 펄스 전기장 처리하였을 경우 처리 시간이나 전기장의 세기가 증가할수록 세포 외액으로 세포내 물질의 유출이 증가하였으며, 세포막 투과성의 변화로 인하여 K<SUP>+</SUP>, Na<SUP>+</SUP>등이 이온 성분의 유출도 나타났다. 염색시약에 의한 세포의 염색에서 처리시간이 증가함에 따라 염색되는 세포의 수가 증가하였으며, 전자현미경에 의한 세포의 관찰 결과 고전압 펄스 전기장 처리를 받은 세포의 경우 처리 받지 않은 것에 비해 표면이 거칠고 굴곡이 있었으며, 세포막이 터져 세포내 물질이 외부로 유출되고 형태가 일그러진 것이 관찰되었다. 항생물질 첨가에 따른 회복 실험에서 고전압 펄스 전기장 처리에 의해 세포의 단백질 합성 체계에 손상을 입었으며, chromosomal DNA의 분리를 통한 DNA의 손상여부 관찰 결과 약 27.3%의 DNA의 손상이 발생했음을 알 수 있었다. 따라서 고전압 펄스 전기장 처리가 세포벽이나 세포막의 손상뿐만 아니라 대사 체계와 DNA에도 손상을 주는 것을 확인할 수 있었다.
더보기High voltage pulsed electric fields (PEF) treatment is one of the more promising nonthermal technologies to fully or partially replace thermal processing. The objective of this research was to investigate the microbial inactivation mechanisms of PEF treatment in terms of intra- and extracellular changes in the cells. Saccharomyces cerevisae cells treated with PEF showed cellular membrane damage. This resulted in the leakage of UV-absorbing materials and intracelluar ions, which increased with increasing treatment time and electric fields strength. This indicates that PEF treatment causes cell death via membrane damage and physical rupture of cell walls. We further confirmed this by Phloxine B staining, a dye that accumulates in dead cells. Using scanning and transmission electron microscopy, we observed morphological changes as well as disrupted cytoplasmic membranes in PEF treated S. cerevisae cells. In addition, PEF treatment led to damaged chromosomal DNA in S. cerevisiae.
더보기분석정보
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2023 | 평가예정 | 해외DB학술지평가 신청대상 (해외등재 학술지 평가) | |
2020-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) | KCI등재 |
2010-11-23 | 학회명변경 | 영문명 : Korean Society Of Food Science And Biotechnology -> Korean Society of Food Science and Technology | KCI등재 |
2010-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2008-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2006-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2004-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2001-07-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
1999-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 1.03 | 1.03 | 1.1 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
1.11 | 1.08 | 2.013 | 0.18 |
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