KCI등재
SCOPUS
투과전자현미경을 이용한 $SmZn_{0.67}Sb_2$의 3차원적 구조 분석 = Three-dimensional Structure Analysis of $SmZn_{0.67}Sb_2$ by Transmission Electron Microscopy
저자
김진규 (한국기초과학지원연구원 나노환경연구부 전자현미경팀) ; 강성권 (충남대학교 화학과) ; 김완철 (충남대학교 화학과) ; 김윤중 (한국기초과학지원연구원 나노환경연구부 전자현미경팀) ; Kim, Jin-Gyu ; Kang, Sung-Kwon ; Kim, Wan-Cheol ; Kim, Youn-Joong
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
2004
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI등재,SCOPUS
자료형태
학술저널
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수록면
255-264(10쪽)
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1
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무기결정질인 $SmZn_{0.67}Sb_2$의 3차원적 구조 (공간군 P4/nmm, $a=4.26{\AA},\;c=10.37{\AA}$)를 전자결정학을 이용하여 분석하였다. 3차원적 정보를 얻기 위해서 주요 정대축인 세 방향의 고분해능 이미지의 정보와 16개의 정대축 방향의 회절도형을 조합하였다. 고분해능 이미지의 결정학적 화상처리(CIP)를 결정구조의 보다 정확한 분석을 위하여 사용하였다. 전자결정학을 이용한 분석 결과, [001], [100], [110] 방향에 대한 고분해능 이미지의 ${\Phi}_{res}$는 각각 $17.0^{\circ},\;8.3^{\circ},\;21.9^{\circ}$를 나타내었다. 전자결정학을 이용한 구조 분석 결과에 대한 정확도를 비교하기 위하여 X-ray 회절 분석을 시도하였다. $SmZn_{0.67}Sb_2$의 X-ray 구조 분석 결과, $a=4.276{\AA},\;c=10.287{\AA}$이고 신뢰도($R_{sym}$)는 4.16% 이었다.
더보기The three-dimensional (3D) structure of an inorganic crystal, $SmZn_{0.67}Sb_2$ (space group P4/nmm, $a=4.26{\AA}\;and\;c=10.37{\AA}$) was solved by electron crystallography. High resolution electron microscopy (HREM) images from 3 different major zone axes and selected-area electron diffraction patterns from 16 different zone axes were combined to obtain a 3D information. A crystallographic image processing (CIP) of HREM images was used for more accurate determination of the crystal structure. As a result of this electron crystallography, average phase errors (${\Phi}_{res}$) of [001], [100] and [110] HREM images are $17.0^{\circ},\;8.3^{\circ}\;and\;21.9^{\circ}$, respectively. Xray crystallography of $SmZn_{0.67}Sb_2$ has attempted to compare accuracy of the structure determination by electron crystallography, which resulted in the cell parameters of $a=4.2976(6){\AA}\;and\;c=10.287(2){\AA}$, and the R-factor ($R_{sym}$) of 4.16%.
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연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
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2022 | 평가예정 | 재인증평가 신청대상 (재인증) | |
2019-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (계속평가) | KCI등재 |
2018-12-01 | 평가 | 등재후보로 하락 (계속평가) | KCI후보 |
2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2014-03-17 | 학술지명변경 | 외국어명 : Korean Journal of Microscopy -> Applied Microscopy | KCI등재 |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2008-09-22 | 학술지명변경 | 한글명 : 한국전자현미경학회지 -> 한국현미경학회지외국어명 : Korean Journal of Electron Microscopy -> Korean Journal of Microscopy | KCI등재 |
2007-10-24 | 학회명변경 | 한글명 : 한국전자현미경학회 -> 한국현미경학회영문명 : Korean Society Of Electron Microscopy -> Korean Society Of Microscopy | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재 1차 FAIL (등재유지) | KCI등재 |
2004-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2003-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | KCI후보 |
2002-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 유지 (등재후보1차) | KCI후보 |
1999-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.11 | 0.11 | 0.12 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.12 | 0.12 | 0.273 | 0 |
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