KCI우수등재
비선형 HPA 환경에서 WR-DFT-s-OFDM 시스템의 성능평가
저자
발행기관
학술지명
전자공학회논문지(Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers )
권호사항
발행연도
2019
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI우수등재
자료형태
학술저널
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3-9(7쪽)
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0
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WR-OFDM 시스템은 OOB 전력을 저감하기 위하여 윈도우를 적용하면서 발생하는 BER 성능 열화를 복원하는 시스템이다. 그러나 WR-OFDM 시스템은 OFDM과 동일하게 다수의 부반송파 신호의 중첩으로 인하여 높은 PAPR(Peak to Average Power Ratio) 특성을 갖는다. 높은 PAPR은 HPA(High Power Amplifier) 비선형성에 의하여 시스템의 성능을 열화시키며, 스펙트럼의 OOB(Out-of-Band) 전력을 향상시키는 문제의 원인이 된다. 본 논문에서는 WR-OFDM 시스템에 PAPR 저감 기법으로 알려져 있는 DFT-s(Discrete Fourier Transform Spreading) 기법을 적용하여 비선형 HPA 조건에 따라 PAPR과 BER 성능, 마지막으로 스펙트럼을 비교 및 분석하였다. 비선형 모델로 Saleh 모델을 사용하였으며 네 가지 조건의 다양한 강도의 HPA 비선형성을 고려하여 시뮬레이션을 수행하였다. 시뮬레이션 결과, WR-DFT-s-OFDM 시스템은 WR-OFDM 시스템과 같은 스펙트럼 특성을 나타내지만 PAPR 특성이 감소하며 BER 성능 열화에도 강한 것을 확인하였다.
더보기WR-OFDM system restores BER performance degradation caused by applying window to reduce OOB power. However, the WR-OFDM system has high PAPR (Peak-to-Average Power Ratio) characteristic due to overlapping a lot of subcarriers same as OFDM. The high PAPR degrades BER performance due to HPA (High Power Amplifier) non-linearity and increases OOB(out-of-band) power of the spectrum. In this paper, we apply DFT-s (Discrete Fourier Transform Spreading) technique, known as the PAPR reduction method, to the WR-OFDM system to compare the PAPR, BER performance and the spectrum according to the nonlinear HPA conditions. The Saleh model was used as a nonlinear model and the simulation was performed considering various strength of HPA nonlinearity. Simulation results show that WR-DFT-s-OFDM system exhibits the same spectral characteristics as the WR-OFDM system, but reduces PAPR characteristic and resistants to degradation of BER performance.
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연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2023 | 평가예정 | 계속평가 신청대상 (등재유지) | |
2018-01-01 | 평가 | 우수등재학술지 선정 (계속평가) | |
2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2014-12-11 | 학술지명변경 | 외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea -> Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers | KCI등재 |
2014-01-21 | 학회명변경 | 영문명 : The Institute Of Electronics Engineers Of Korea -> The Institute of Electronics and Information Engineers | KCI등재 |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2005-10-17 | 학술지명변경 | 한글명 : 대한전자공학회 논문지 -> 전자공학회논문지 | KCI등재 |
2005-05-27 | 학술지등록 | 한글명 : 대한전자공학회 논문지외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea | KCI등재 |
2005-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2002-07-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2000-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.27 | 0.27 | 0.25 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.22 | 0.19 | 0.427 | 0.09 |
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