프로브 핀 접촉저항의 S-파라미터 영향 분석
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발행연도
2021
작성언어
Korean
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자료형태
학술저널
수록면
273-275(3쪽)
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일반적으로 반도체 패키지 테스트용 프로브 핀의 저항은 작은 값을 가지고 있으며, 소형 프로브 핀일수록 접촉저항은 전체 저항에서 큰 비중을 차지하고 된다. 본 논문은 프로브 핀이 S-파라미터에 미치는 영향을 분석하였다. 3차원 전자장 시뮬레이션을 통하여 프로브 핀의 S-파라미터를 계산하고, 접촉저항을 S-파라미터 양단에 직렬 연결하여 회로를 구성하였다. 접촉저항 값을 변경하여 프로브의 S-파라미터에 미치는 영향을 계산하였다. 접촉저항이 없는 경우와 0.1 Ω인 경우를 비교하면, 프로브 핀의 삽인손실과 반사손실은 40 GHz이하의 대역폭에서 거의 변화가 없었다. 이러한 결과는 프로브 핀의 접촉저항이 고주파 성능에 거의 영향을 미치지 않음을 의미한다.
더보기In general, the resistance of the probe pin for semiconductor package performance inspection has a small value. The smaller the probe pin, the larger the contact resistance is in the total resistance. The effect of probe pins on S-parameters is analyzed in this work. The S-parameter of the probe pin was calculated using 3 dimension electromagnetic field simulation. The contact resistance was connected in series to both ends of the S-parameter. The effect of changing the contact resistance value on the S-parameter of the probe was calculated. Comparing the case of no contact resistance and the case of 0.1 Ω, the insertion loss and reflection loss of the probe pin hardly changed in the bandwidth below 40 GHz. These results verify that the contact resistance of the probe pin has little effect on the high frequency performance of the probe pin.
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