KCI등재
적외선 열화상 기술을 이용한 반사판 재질에 따른 비가시 영역의 결함 측정 평가 = Evaluation of Defect Measurement in Invisible Areas According to Reflector Materials Using Infrared Thermography
The objective of this study is to measure defects using reflectors and to evaluate the reflectors as well as defects by precise measurements of defects for various reflectors. In the study, a reflector was used to overcome the measurement limitations caused by invisible areas, such as the backsides of pipes, via infrared thermal imaging. Reflectors were selected according to the temperature change and energy change rate per unit time of the reflector and heat source according to the material, and the defects in the invisible regions were measured and evaluated using each of the selected reflectors. Thus, It was possible to improve the detection rate of defects by selecting an appropriate reflector considering the space limitation and thermal characteristics of the target material.
더보기본 연구는 적외선 열화상(infrared thermography)시스템을 구성하여 반사판에 따른 결함을 측정하고, 이를 이용하여 여러 가지 반사판별로 결함을 정밀 계측하여 반사판과 결함을 평가하는데 목표가 있다. 적외선 열화상을 이용하여 배관의 후면과 같은 보이지 않는 영역의 측정 한계를 극복하기 위하여 반사판을 사용하였다. 재질별 반사판과 열원의 단위시간당 온도변화와 에너지 변화율에 따라 반사판을 선정하였으며 선정된 반사판을 이용하여 비가시 영역의 결함을 측정 평가 하였다. 공간 제한 및 대상 물질의 열적 특성을 고려하여 적절한 반사판을 선택하여 결함의 검출율을 향상 시킬 수 있을 것이다.
더보기분석정보
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
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2026 | 평가예정 | 재인증평가 신청대상 (재인증) | |
2020-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (재인증) | KCI등재 |
2017-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (계속평가) | KCI등재 |
2013-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2010-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2008-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2006-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2003-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2002-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | KCI후보 |
2001-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.36 | 0.36 | 0.27 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.21 | 0.19 | 0.467 | 0.14 |
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