반도체 제조공정에서 이미지화 한 웨이퍼 테스트 데이터의 기계 학습을 이용한 패키지 불량 예측 연구
저자 : 최준석
발행사항 : 서울 : 성균관대학교 일반대학원, 2020
학위논문사항 : 학위논문(석사)-- 성균관대학교 일반대학원 : 반도체디스플레이공학과 2020. 2
발행연도 : 2020
작성언어 : 한국어
주제어 : Wafer data pre-process ,Wafer Test ,Package Test ,Machine Learning ,CNN
발행국(도시) : 서울
기타서명 : Package fail prediction using machine learning with imaged wafer test data in semiconductor manufacturing
형태사항 : 33 p. : 삽화, 표 ; 30 cm
일반주기명 : 지도교수: 이지형
참고문헌 : p. 30-31
소장기관 :
- 성균관대학교 삼성학술정보관
- 성균관대학교 중앙학술정보관
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다국어 초록 (Multilingual Abstract)
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번역결과
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