Halo 구조의 MOSFET에서 이동도 감소 현상 = The Behavior of the Mobility Degradation in Pocket Implanted MOSFETS
저자
이병헌 ; 이기영 ; Lee Byung-Heon ; Lee Kie-Young
발행기관
학술지명
電子工學會論文誌-SD (Semiconductor and devices)(Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea)
권호사항
발행연도
2005
작성언어
Korean
등재정보
구)KCI등재(통합)
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
1-8(8쪽)
제공처
소장기관
소오스와 드레인 근처에 포켓이온이 주입된 halo구조의 MOSFET에서 전송자의 이동도 감소는 포켓이온주입의 조건에 따라 이온화된 불순물의 증가에 따른 쿨롱(Coulomb) 산란율의 증가에 의한 이동도의 감소량보다 큰 이동도의 감소가 관측될 수 있다. 게이트 바이어스에 대한 이동도의 특성변화도 기존의 일차적인 쿨롱산란의 증가효과에 의한 해석과 비교하여 상이한 결과가 나타날 수 있음이 실험적으로 확인되고 있다. 본 연구에서는 포켓이온 주입에 의하여 쿨롱산란원이 되는 유효불순물 농도의 증가에 따른 일차적인 이동도의 감소효과를 벗어난 이동도 특성을 분석하여 이동도의 감소현상을 일반적으로 설명할 수 있는 개선된 해석적 모델을 제시하였다. 해석적인 결과를 도출하기 위하여 일차원 영역구분의 근사방법을 적용한 결과, 포켓이온 주입에 의하여 포논산란율 및 표면산란율(surface roughness scattering rate)의 증가도 이동도감소에 기여함이 보여 졌다. 채널의 전송자분포가 드레인 전류에 영향을 미치게 되므로 포켓이온에 의해 유발된 전송자분포의 효과를 분석하여 유효이동도가 추가적으로 감소함을 확인하였다.
더보기The increased effective impurity due to the pocket ion implantation is well blown to give rise to a reduction of the effective mobility of halo MOSFETs. However, further decrease of the effective mobility can be observed in pocket implanted MOSFETs above the mobility reduction due to the Coulomb impurity scattering and the gate bias dependency of the effective mobility can also differ from the simple model describing the mobility behavior in terms of the effective impurity. Phonon scattering and surface scattering as well as impurity Coulomb scattering are also shown to be effective in the degradation of the carrier mobility of pocket implanted MOSFETs. Using the 1-D regional approximation the effect of the distribution of the inversion charge density along the channel on the drain current is investigated. The inhomogeneous channel charge distribution due to pocket implantation is also shown to contribute to the further reduction of the effective mobility in halo MOSFETs.
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