사과 내부 결함 검출을 위한 근적외선 영상처리 기술 개발 기초 연구 = Basic Study on Development of Short Wavelength InfraRed Image Processing Technology to Detect Internal Defect in Apple
저자
이창협 ( Chang-hyup Lee ) ; 노승우 ( Seung-woo Roh ) ; 김대영 ( Dae Young Kim ) ; 누르히스나 ( Nandita Ursaulul Nurhisna ) ; 백민규 ( Mingyu Baek ) ; 김기석 ( Ghiseok Kim )
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
2023
작성언어
-주제어
KDC
500
자료형태
학술저널
수록면
293-293(1쪽)
제공처
사과는 국내에서 대량 소비되는 농산물 중 하나로, 뛰어난 저장성이 특징이다. 이러한 많은 소비량과 저장성은 유통 및 저장 과정에서 내부 결함이 발생할 가능성을 높이며, 이로 인해 소비자의 만족도를 저하시키고 장기적인 사과의 소비에 부정적인 영향을 미칠 수 있다. 사과의 크기, 모양, 색상, 표면 상태, 당도 등의 겉보기 특성을 선별 과정에서 중요한 역할을 하지만, 내부 결함은 대체로 판매 후에야 소비자에게 드러나 이는 큰 문제점으로 남아있다. 본 연구에서는 광원에 대한 반응성을 이용하여 내부가 부패한 사과와 정상 사과를 구별하고자 하였다. 이를 위해 할로겐 광원을 사용할 수 있는 암막 프레임을 설계하고, 상단에는 근적외선 카메라를 부착하여 영상 데이터를 취득하였다. 내부가 부패한 사과는 UTM을 통해 제작하였으며, 제작한 부패 사과와 정상 사과의 광원에 대한 반응성을 근적외선 카메라로 취득하였다. 또한, 해당 근적외선 영상을 분석하고 결함을 판별하기 위한 알고리즘을 개발하였다. 해당 기초 연구를 발전시킨다면, 향후 사과 선별과정에서 기존의 겉보기 품질 뿐만 아니라 내부의 품질도 판별할 수 있는 시스템에 활용될 수 있을 것으로 기대된다.
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