Influence of diffusion barrier on potential induced degradation phenomenon in crystalline silicon photovoltaic modules
저자
발행사항
Seoul : Graduate School, Korea University, 2016
학위논문사항
학위논문(박사)-- 고려대학교 대학원: 신소재공학과 2016. 8
발행연도
2016
작성언어
영어
주제어
발행국(도시)
서울
형태사항
ix, 109장 : 천연색삽화, 도표 ; 26 cm
일반주기명
지도교수: 김동환
참고문헌: 장 100-109
DOI식별코드
소장기관
11Potential induced degradation (PID) due to high system voltages is one of the major degradation mechanisms in photovoltaic (PV) modules, adversely affecting their performance due to combined effect of the following factors: system voltage via ground, superstrate/glass surface conductivity, encapsulant conductivity, silicon nitride anti-reflection coating properties and interface properties(glass/encapsulant; encapsultant/cell; encapsulant/backsheet). Many researches have been studied between system, cell and material levels for anti-PID. Sodium (Na) was recently identified as the
primary cause of PID in silicon photovoltaic modules. Unfortunately, the source of degradation is still unclear where it comes from. This study focused on the source of sodium (Na) ions result in degradation of photovoltaic modules, known as PID phenomenon. There are many assumes of degradation and it is still debated whether the soda-lime glass is the actual source or other sites. We explained the source of Na ions with simple experiment in which the Na ions extracted from glass in water: we called
leaching phenomenon. Also we proposed the protection method of degradation via moisture barrier by supersonic kinetic spray coating technique. The test proves that the source of Na ions was closely connected between glass and moisture. It calculated activation energy of Na ion extraction from leaching phenomenon and demonstrated the effects of diffusion barrier actual experiments for anti-PID. Finally, we suggested a model of cyclic leaching effect for anti-PID.
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