디지탈 회로의 검사 신호에 대한 고장 검출율을 정확하게 계산하기 위해 결함 시뮬레이터를 사용한다. 그러나 결함 시뮬레이터의 실행 시간은 회로를 구성하는 게이트 수의 제곱에 비례하여 오늘날의 대규모 회로에서는 많은 CPU 시간을 소모한다. 따라서 정확도는 떨어지지만 비교적 짧은 시간 안에 회로의 검사성을 평가하기 위한 검사성 분석 알고리즘이 제안되었다. COP는 빠르고 정확하느 순차회로에 적용할 수 없으며 STAFAN은 순차회로에 적용이 가능하지만 정상 회로 시뮬레이션의 사용으로 실행시간이 많이 소모된다. 본 저자들은 정확한 고장 검출율을 단시간에 얻기 위해서 EXTASEC을 제안한 바 있다. EXTASEC은 극히 일부 회로에서 정확도가 떨어지는 현상이 발생하였으며, 이 논문에서는 EXTASEC의 문제가 플립플롭의 초기화와 관련이 있는 것을 밝히고, 개선된 알고리즘 ITEM을 제안한다. ITEM은 후진선의 반복적 계산과 초기화되지 않는 플립플롭에 대한 분석으로 고장 검출율을 정확하고 빠르게 얻을 수가 있었다.
Fault simulator has been used 10 compute exact Fault coverages of test vectors lor digital circuit. But it is time consuming because execution time is proportional to square of circuit size. Recently, several algorithms for testability analysis have been published to cope with these problems. COP iS very fast and accurate but cannot be used for sequential circuits, while STAFAN can be used for sequential circuits but nerds vast amount of execution time due to good circuit simulation. We proposed EXTASEC which gave fast and accurate fault coverage. But it shows noticeable errors fora few sequential circuits. In this paper, it 1s shown that the inaccuracy is due to uninitializable flipflops, and we propose ITEM to improve the EXTASEC algorithm. ITEM iS an improved evaluation method of fault coverage by analysis of backward lines and uninitializable flipflops. It is expected to perform efficiently for very large circuits where execution time is critical.
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