KCI우수등재
듀얼밴드 스마트 태그용 NFC Analog Front-End 설계
저자
발행기관
학술지명
전자공학회논문지(Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers )
권호사항
발행연도
2018
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI우수등재
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
21-28(8쪽)
KCI 피인용횟수
0
제공처
소장기관
본 논문은 하나의 태그를 이용하여 UHF대역(900MHz) 및 HF대역(13.56MHz,NFC) 두 대역의 신호를 인식 및 송수신 할 수 있는 듀얼밴드 스마트태그의 NFC 아날로그 프론트엔드 및 모드선택기를 설계 및 제작하여 성능을 측정하였다. 제안된 회로는 리더와 태그간의 인식거리를 늘리기 위해 저전력으로 동작 가능하게 설계 되었으며, 디지털 블록은 아두이노를 이용하여 리더 및 태그간의 데이터 송수신 검증을 완료하였다. 제안된 회로는 SMIC 0.18㎛ 1-Poly 4-Metal CMOS 공정으로 제작되었고, 칩의 면적은 5000㎛ × 5000㎛이며, NFC아날로그 프론트엔드의 유효 면적은 4500㎛ × 3500㎛이다. 듀얼 밴드 스마트 태그의 작동을 제작된 칩 측정을 통하여 확인하였다.
더보기The NFC Analog Front-End and Mode Selector for Dual band Smart Tag was implemented and verified. The Dual band Smart Tag can recognize and communicate the both band signals of the UHF band (900MHz) and the HF band (13.56MHz, NFC) by the single tag. The proposed NFC Analog Front-End part of dual band smart tag is operating at low power, so the chip enables to increase the distance between NFC Reader and the tag. The Digital block for smart tag was verified using the Arduino Uno board, and enables the data transmission between the NFC Reader and the tag verification. The Dual band Smart tag chip was designed and fabricated using a SMIC 0.18㎛ 1-Poly 4-Metal CMOS process. The area of the Dual band Smart tag chip is 5000㎛ × 5000㎛ and the effective area of NFC Analog Front-End is 4500㎛ ×3500㎛.The dual band smart tag operation is verified by the test using the fabricated chip.
더보기분석정보
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2023 | 평가예정 | 계속평가 신청대상 (등재유지) | |
2018-01-01 | 평가 | 우수등재학술지 선정 (계속평가) | |
2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2014-12-11 | 학술지명변경 | 외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea -> Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers | KCI등재 |
2014-01-21 | 학회명변경 | 영문명 : The Institute Of Electronics Engineers Of Korea -> The Institute of Electronics and Information Engineers | KCI등재 |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2005-10-17 | 학술지명변경 | 한글명 : 대한전자공학회 논문지 -> 전자공학회논문지 | KCI등재 |
2005-05-27 | 학술지등록 | 한글명 : 대한전자공학회 논문지외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea | KCI등재 |
2005-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2002-07-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2000-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.27 | 0.27 | 0.25 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.22 | 0.19 | 0.427 | 0.09 |
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