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기생 인덕턴스를 고려한 항공기 탑재장비의 간접낙뢰 보호회로 설계 = Design of Lightning Induced Transient Protection Circuit for Avionics Equipment Considering Parasitic Inductance
저자
심용기 (LIG넥스원 항공연구소) ; 조성진 (LIG넥스원 항공연구소) ; 김성훈 (LIG넥스원 항공연구소) ; 박준현 (LIG넥스원) ; 한종표 (국방과학연구소) ; Sim, Yong-gi ; Cho, Seong-jin ; Kim, Sung-hun ; Park, Jun-hyun ; Han, Jong-pyo 연구자관계분석
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2017
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Korean
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KCI등재
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학술저널
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459-465(7쪽)
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본 논문에서는 간접낙뢰로 인한 항공기 탑재 장비의 손상을 방지하기 위한 간접낙뢰 보호회로의 설계시 고려해야 하는 사항들을 설명한다. 낙뢰로부터 유도된 서지 전압은 항공기 전기 전자장비의 기능 장애나 손상을 가져오는데 이것을 낙뢰의 간접영향이라 한다. 이러한 항공기의 낙뢰 간접영향으로부터 항공전자 장비를 보호하기 위해서는 항공기에 가해진 낙뢰로 인한 영향성을 분석하고 이에 따른 보호 설계를 각각의 장비에 적용한다. 설계된 간접낙뢰 보호회로는 PCB와 TVS다이오드에 기생하는 인덕턴스로 인해 의도치 않은 결과를 가져올 수 있다. 본 논문에서는 간접낙뢰 보호회로를 구성하는 요소들에 기생하는 인덕턴스를 고려한 보호회로 설계 방법을 소개한다. 또한 설계된 보호회로의 유효성 확인을 위해 수행한 낙뢰 간접영향 검증시험 결과를 보인다.
더보기In this paper, we introduce the design consideration of the lightning induced transient protection circuit for the indirect lightning strike on the avionics equipment. The lightning induced surge voltage, which is so-called as indirect effects of lightning, may cause a functional failure or physical damage to the electrical and electronic equipment of aircraft. In order to protect the electrical and electronic equipment of aircraft from the indirect effects of lightning, we should analyze the effect of lightning strike on aircraft and consider applying protection design for each avionics device. However, lightning induced transient protection circuits can have unintended consequences because parasitic inductance elements are exist in PCB and TVS diodes. In this paper, we introduce the design method of the protection circuit considering the parasitic inductance of the protection circuit. In addition, we show the result of verification test performed to validate the protection circuits for indirect effects of lightning.
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연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
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2027 | 평가예정 | 재인증평가 신청대상 (재인증) | |
2021-04-23 | 학술지명변경 | 외국어명 : The Journal of Korea Navigation Institute -> Journal of Advanced Navigation Technology | KCI등재 |
2021-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (재인증) | KCI등재 |
2018-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2008-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | KCI후보 |
2005-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.27 | 0.27 | 0.23 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.21 | 0.19 | 0.364 | 0.16 |
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