KCI등재
PLD를 이용한 HoMn1 - xFexO₃ 박막 제조 및 후방 산란형 뫼스바우어 분광 연구 = Characterization and Conversion Electron Mossbauer Spectroscopy of HoMn1 ? xFexO₃ Thin Films by Pulsed Laser Deposition
저자
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
2007
작성언어
Korean
주제어
KDC
428
등재정보
KCI등재,ESCI
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
18-21(4쪽)
제공처
소장기관
Pulsed laser deposition(PLD) 박막 증착법을 이용하여 hexagonal HoMn1 − xFexO₃(x = 0.0, 0.05) 물질을 박막으로 Pt/Ti/SiO₂/Si 기판 위에 증착하였다. 또한 x-ray diffraction(XRD), atomic force microscopy(AFM), scanning electron microscope(SEM), 및 x-ray photoelectron spectroscopy(XPS)를 통하여 박막의 결정학적 및 미세 구조를 분석하였고, conversion electron Mössbauer spectroscopy(CEMS)를 이용하여 자기적 특성에 관해 연구하였다. 결정구조는 hexagonal 구조로써 space group이 P6₃㎝로 분석되었고, single crystal과는 달리 (110) 방향으로 우선 배향성을 가지고 증착되었다. HoMn0.95Fe0.05O₃ 박막의 경우 single crystal과 비교했을 때 hexagonal unit cell의 c₀ 축은 일정하나 a₀ 축은 다소 감소함으로 분석되었다. 이는 박막 증착에 사용된 Pt/Ti/SiO₂/Si 기판과의 lattice mismatch 때문으로 해석된다. Fe가 미량 치환된 HoMn0.95Fe0.05O₃ 박막을 상온에서 CEMS 측정을 수행한 결과, HoMn0.95⁵⁷Fe0.05O₃ 분말의 경우 magnetic TN이 72 K 부근이므로, 상온에서 doublet absorption spectrum이 관측되었고, 전기사중극자 분열값(quadrupole splitting; ∆EQ)이 1.62±0.01 ㎜/s로 비교적 큰 값을 가짐을 확인하였다.
더보기The hexagonal HoMn1 − xFexO₃ (x = 0.00, 0.05) thin films were prepared using pulsed laser deposition (PLD) method on Pt/Ti/SiO₂/Si substrate. The microstructure and magnetic properties have been studied by x-ray diffraction (XRD), atomic force microscopy (AFM), scanning electron microscope (SEM), x-ray photoelectron spectroscopy (XPS), and conversion electron Mössbauer spectroscopy (CEMS). From the analysis of the x-ray diffraction patterns, the crystal structure for all films was found to be a hexagonal (P6₃㎝), which was preferentially grown along (110) direction. The lattice constant c₀ of the film with x = 0.05 was close to that of single crystal, whereas lattice constant a₀ with respect to single crystal shows a slight decrease. This difference of lattice parameters between film and single crystal was caused by the lattice mismatch between the film and Pt/Ti/SiO₂/Si substrate. Conversion electron Mössbauer spectrum of HoMn0.95Fe0.05O₃ thin film shows an asymmetry doublet absorption ratio at room temperature, which is due to the oriented direction of crystallographic domains. This is corresponding with analysis of x-ray diffraction. The quadrupole splitting (∆EQ) at room temperature is found to be 1.62 ± 0.01 mm/s. This large ∆EQ was caused by asymmetry environment surrounding Fe ion.
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