KCI등재
비정형 형상 유전체의 도파관 방식 X-Band 유전율 측정을 위한 딥러닝 모델 연구
저자
권성욱(Seonguk Kwon) ; 서정빈(Jungbin Seo) ; 서한동(Handong Seo) ; 양혜민(Hyemin Yang) ; 박영철(Youngcheol Park)
발행기관
학술지명
한국전자파학회 논문지(The Journal Of Korean Institute of Electromagnetic Engineering and Science)
권호사항
발행연도
2025
작성언어
Korean
주제어
KDC
427
등재정보
KCI등재
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
806-813(8쪽)
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제공처
This study proposes a deep-learning model for estimating the permittivity of irregularly shaped dielectric materials employing X-band (8~12 ㎓) waveguide measurements. The proposed convolutional neural network (CNN) extends the conventional Nicolson-Ross-Weir (NRW) method to deliver accurate permittivity values, even when the dielectric samples deviate from the waveguide geometry. The model was trained on S-parameter data acquired under non-ideal conditions, including air gaps between the waveguide and sample as wells as oversized samples that exceed the waveguide aperture dimensions. To address the limitations of the NRW method with respect to thickness variations, the model incorporated S-parameter data with varying sample thicknesses. Performance validation utilizing FR-4 substrates demonstrated that the CNN model achieved highly accurate permittivity measurements with error rates within 1.2 % for samples with air gaps of up to 5 % and within 5 % error rates for oversized samples. These findings confirm that the proposed approach offers a robust and reliable solution for permittivity measurement of irregularly shaped dielectric materials in practical applications.
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