KCI등재
무전해 도금에 의한 은코팅 구리 플레이크의 제조에서 전처리 공정 및 환원제 양의 영향 = Effects of Different Pretreatment Methods and Amounts of Reductant on Preparation of Silver-coated Copper Flakes Using Electroless Plating
저자
오상주 (서울과학기술대학교) ; 김지환 (서울과학기술대학교 신소재공학과) ; 이종현 (서울과학기술대학교) ; Oh, Sang Joo ; Kim, Ji Hwan ; Lee, Jong-Hyun 연구자관계분석
발행기관
학술지명
마이크로전자 및 패키징학회지(Jornal of the Microelectronics and Packaging Society)
권호사항
발행연도
2016
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI등재
자료형태
학술저널
수록면
97-104(8쪽)
KCI 피인용횟수
2
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제공처
소장기관
L-ascorbic acid 환원제를 사용하는 무전해 은도금 공정으로 Ag 코팅 Cu 플레이크를 제조하는 과정에서 전처리 방법 및 L-ascorbic acid의 농도에 따른 Ag 코팅층의 균일도 변화와 대기 중 승온에 따른 내산화 특성을 평가하였다. 전처리 방법에 따른 Cu 플레이크 표면 산화층의 제거 정도가 Ag 코팅층의 균일도에 큰 영향을 미치는 것을 관찰할 수 있었고, 플레이크에서의 홀 결함 발생정도도 Ag 코팅 Cu 플레이크의 내산화 특성에 다소 영향을 미쳤다. 또한 L-ascorbic acid 환원제의 농도는 Ag 코팅층의 생성 균일도 및 두께 등에 큰 영향을 미치는 대표 공정변수임을 확인할 수 있었는데, L-ascorbic acid의 농도가 0.04 M일 경우 가장 우수한 품질의 Ag 코팅 Cu 플레이크가 제조되었나, 농도를 0.06 M로 증가시킬 경우 미세한 순수 Ag 입자들의 생성으로 인해 Ag가 코팅되지 않은 Cu 표면 면적이 증가하면서 시료의 내산화 특성을 크게 감소시켰다.
더보기In the preparation of Ag-coated Cu flakes using L-ascorbic acid as a reductant for the electroless Ag plating, the effects of pretreatment methods and the reductant concentration on the uniformity of Ag coating layer and the anti-oxidation property of Ag-coated Cu flakes during the heating in air were evaluated. It was found that the removal degree of surface oxide layer during the pretreatment has great influence on the uniformity of Ag coating layer and the formation degree of hole defects in the flakes has slight effect on the anti-oxidation property of Ag-coated Cu flakes. It was also verified that the reductant concentration has great influence on the coverage uniformity and thickness of Ag coating, thus it was could be considered a main process parameter. When the reductant concentration was 0.04 M, high-quality Ag-coated Cu flakes was obtained. When the concentration increased to 0.06 M, however, the anti-oxidation property of Ag-coated Cu flakes became remarkably worse owing to remnant of Cu surface non-coated with Ag by the formation of pure Ag fine particles.
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연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
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2022 | 평가예정 | 계속평가 신청대상 (계속평가) | |
2021-12-01 | 평가 | 등재후보로 하락 (재인증) | KCI후보 |
2018-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2011-06-28 | 학술지명변경 | 한글명 : 마이크전자 및 패키징학회지 -> 마이크로전자 및 패키징학회지외국어명 : The Microelectronics and Packaging Society -> Jornal of the Microelectronics and Packaging Society | KCI등재 |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2009-01-01 | 평가 | 등재 1차 FAIL (등재유지) | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2004-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2003-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | KCI후보 |
2001-07-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.48 | 0.48 | 0.43 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.39 | 0.35 | 0.299 | 0.35 |
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