KCI등재
명령어 분석기를 이용한 고속 메모리 테스트를 위한 병렬 ALPG = An Effective Parallel ALPG for High Speed Memory Testing Using Instruction Analyzer
저자
윤현준(Hyunjun Yoon) ; 양명훈(Myung-Hoon Yang) ; 김용준(Yongjoon Kim) ; 박영규(Youngkyu Park) ; 박재석(Jaeseok Park) ; 강성호(Sungho Kang)
발행기관
학술지명
電子工學會論文誌-SD (Semiconductor and devices)(Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea)
권호사항
발행연도
2008
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI등재
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
33-40(8쪽)
KCI 피인용횟수
0
제공처
소장기관
메모리의 속도가 빠르게 향상됨에 따라, 고속 메모리를 테스트하기 위한 테스트 장비가 요구되고 있다. 특히 고속 메모리를 사용자가 원하는 명령어를 그대로 사용하여 효율적으로 테스트할 수 있도록 패턴을 만들어 내는 알고리즘 패턴 생성기(ALPG)가 필요하다. 본 논문에서는 고속 메모리 테스트를 위한 새로운 병렬 ALPG를 제안한다. 제안하는 ALPG는 명령어 분석기를 통해 사용자가 실행하고자 하는 명령어를 그대로 사용하여 고속 메모리 테스트를 위한 패턴을 생성할 수 있다.
더보기As the speed of memory is improved very fast, the advanced test equipments are needed to test the ultra-high speed memory devices efficiently. It is necessary to develop the Algorithmic Pattern Generator (ALPG) that tests fast memory devices effectively using the instructions that testers want to use. In this paper, we propose a new parallel ALPG for the ultra-high speed memory testing. The proposed ALPG can generate patterns for fast memory devices at high speed using manual instructions by the Instruction Analyzer.
더보기분석정보
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2014-01-21 | 학회명변경 | 영문명 : The Institute Of Electronics Engineers Of Korea -> The Institute of Electronics and Information Engineers | |
2012-09-01 | 평가 | 학술지 통합(등재유지) | |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지(등재유지) | KCI등재 |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지(등재유지) | KCI등재 |
2007-10-04 | 학술지명변경 | 한글명 : 전자공학회논문지 - SD</br>외국어명 : SemiconductorandDevices | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지(등재유지) | KCI등재 |
2005-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지(등재유지) | KCI등재 |
2002-07-01 | 평가 | 등재학술지 선정(등재후보2차) | KCI등재 |
2000-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정(신규평가) | KCI후보 |
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