KCI등재
고전류밀도에서 첨가제에 따른 구리도급의 표면 특성 연구 = The Effect of Additives on the High Current Density Copper Electroplating
저자
심진용 (홍익대학교) ; 문윤성 (LS-Nikko 동제련) ; 허기수 (LS-Nikko 동제련) ; 구연수 (광양보건대학교) ; 이재호 (홍익대학교) ; Shim, Jin-Yong ; Moon, Yun-Sung ; Hur, Ki-Su ; Koo, Yeon-Soo ; Lee, Jae-Ho
발행기관
학술지명
마이크로전자 및 패키징학회지(Jornal of the Microelectronics and Packaging Society)
권호사항
발행연도
2011
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI등재
자료형태
학술저널
수록면
29-33(5쪽)
KCI 피인용횟수
1
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제공처
전류밀도는 전기도급법에서 생산성과 직접적인 연관이 있고, 생산성의 증가를 위해선 고전류밀도가 필요하다. 회전전극(RDE)의 회전 속도를 증가시키면 고유속을 얻을 수 있다. 유속 조절을 위해 회전전극과 원통형 회전 전극을 사용하였고, 전압과 전류의 관계를 알아보기 위해 정전류, 정전압 실험과 linear sweep voltammetry 실시하였다. 회전 전극의 회전 속도가 400 rpm이상 조건에서, 수소가 발생하지 않고 1000 A/$m^2$이상의 최대전류멸도가 가능하였다. $25^{\circ}C$와 $62^{\circ}C$ 조건에서 구리의 확산계수는 각각 $5.5{\times}10^6\;cm^2\;s^{-1}$와 $10.5{\times}10^6\;cm^2\;s^{-1}$로 계산되었다. 수소가 발생하지 않으면서 안정적으로 구리를 전착할 수 있는 조건은 -0.05 V (vs Ag/AgCl)이었다. 첨가제인 glue와 thiourea-를 넣음으로써 구리의 침상성장을 막을 수 있었다. 표면 거칠기는 UV-Vis Spectrophotometer를 아용하여 분석되었다. 600 nm 영역에서 반사도는 측정 되었고 표면 거철기가 개선될수록 표면 반사도가 증가하였다.
더보기The current density in copper electroplating is directly related with the productivity and then to increase the productivity, the increase in current density is required. To obtain the high mass flow rate, rotating disk electrode(RDE) was employed. High rotational speed in RDE can increase the mass flow rate and then high speed electroplating was possible using RDE to control mass flow. Two types of cathode were used. One is RDE and another is rotating cylindrical electrode(RCE). A constant-current, constant-voltage and linear sweep voltammetry were applied to investigate current and voltage relationship. The maximum current density without evolution of hydrogen gas was increased with rotational speed. Over 400 rpm, maximum current density was higher than 1000 A/$m^2$. The diffusion coefficients of copper calculated from the slope of the plots are $5.5{\times}10^6\;cm^2\;s^{-1}$ at $25^{\circ}C$ and $10.5{\times}10^6\;cm^2\;s^{-1}$ at $62^{\circ}C$. The stable voltage without evolution of hydrogen gas was -0.05 V(vs Ag/AgCl). Additives were added to prevent dendritic growth on cathode deposits. The surface roughness was analyzed with UV-Vis Spectrophotometer. The reflectance of the copper surface over 600 nm was measured and was related with the surface roughness. As the surface roughness improved, the reflectance was also increased.
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연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
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2018-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2011-06-28 | 학술지명변경 | 한글명 : 마이크전자 및 패키징학회지 -> 마이크로전자 및 패키징학회지외국어명 : The Microelectronics and Packaging Society -> Jornal of the Microelectronics and Packaging Society | KCI등재 |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2009-01-01 | 평가 | 등재 1차 FAIL (등재유지) | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2004-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2003-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | KCI후보 |
2001-07-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
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2016 | 0.48 | 0.48 | 0.43 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.39 | 0.35 | 0.299 | 0.35 |
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