Na₂O·B₂O₃·V₂O_(5) 반도체 유리의 유전성질에 관한 연구 = Investigation of Dielectric Properties in Some Na₂O·B₂O₃·V₂O_(5) Semiconducting Glasses
저자
강재필 (명지대학교 자연과학대학 물리학과) ; 차유정 (명지대학교 자연과학대학 물리학과) ; 김영훈 (명지대학교 자연과학대학 물리학과) ; 홍성덕 (명지대학교 자연과학대학 물리학과) ; 서용문 (명지대학교 자연과학대학 물리학과) ; 송승기 (명지대학교 자연과학대학 물리학과)
발행기관
명지대학교 자연과학연구소(THE NATURAL SCIENCE RESEARCH INSTITUTE MYONGJI UNIVERSITY)
학술지명
권호사항
발행연도
2006
작성언어
Korean
주제어
KDC
405
자료형태
학술저널
수록면
5-10(6쪽)
제공처
소장기관
Na_(2)O·B_(2)O_(3)·V_(2)O_(5) 반도체 유리를 다양한 성분비로 제작하여 시료에 관한 유전상수와 유전손실의 주파수(0.1~100 kHz)와 온도(125~325K)의존성을 연구했다. ε_(real)과 ε_(imag)은 주파수를 증가시키면 천천히 감소했으며, ε_(img)는 유리 안에 도입되는 V_(2)O_(5) 양이 많을수록 감소함이 컸다. 유전상수와 유전손실은 온도를 증가시키면 약 300K까지는 서서히 변화하였으나 그 이상의 온도에서는 급격히 증가하였으며, 이들 유리에서 ε_(real)과 ε_(imag)의 온도의존성이 Debye형 유전이완을 따르고 있음을 보였다.
더보기The frequency (0.1~100 kHz) and temperature (125~325 K) dependent dielectric constant (ε_(real)) and dielectric loss (ε_(img)) have been investigated for the samples of various compositions in Na_(2)O·B_(2)O_(3)·V_(2)O_(5) semiconducting glasses. The ε_(real) and ε_(img) decrease slowly with increasing frequency, and the decrease of ε_(img) is sharper with the increase of V_(2)O_(5) content in the glasses. The dielectric constant and dielectric loss varies slowly with increasing temperature up to about 300 K and then the magnitude of these values increases sharply with further increase of temperature, which shows that the temperature dependence of ε_(real) and ε_(img) is Debye-type dielectric relaxation in these glasses.
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