SCOPUS
SCIE
KCI등재
인산 부식액의 수세가 교정용 접착레진의 전단결합강도에 미치는 영향 = THE EFFECT OF WASHING PHOSPHORIC ACID ETCHANT ON SHEAR BOND STRENGTH OF AN ORTHODONTIC ADHESIVE
산부식된 법랑질표면의 오염은 브라켓의 레진 접착력에 영향을 미친다고 보고되어 왔다. 이 연구의 목적은 인산액이 법랑질과 반응하여 수용성염 및 불수용성염을 형성하는 경우와 부식표면이 타액오염된 경우에, 이의 수세시간이 브라켓의 레진접착 전단결합강도에 미치는 영향을 관찰하기 위하여 시행되었다.
치과 교정치료를 목적으로 발거된 총 234개의 상하악 소구치를 대상으로 37% 인산액으로 60초간 부식한 군, 20% 인산액으로 60초간 부식한 군, 37% 인산액으로 60초간 부식하고 타액오염시킨 군으로 나누고, 인산부식군은 각각 0초, 5초, 10초,20초간 수세하고, 타액오염군은 0초, 20초, 30초 수세하거나, 재부식후 5초, 10초, 20초간 수세한후 레진접착제로 브라켓을 접착하였다. 5각군의 법랑질표면을 주사전자현미경과으로 검경하고, 전단결합강도를 측정하여 비교검토한 결과 다음의 결과를 얻었다.
1) 산부식후 수세를 하지 않으면 레진접착제의 전단결합강도가 현저히 감소 하였다.
2) 37% 이산부식액으로 부식시키고 5초, 10초 및 20초간 수세한후의 접착레진 전단결합강도 사이에는 차이가 없었다.
3) 20% 인산액으로 부식시키고 5초, 10초 및 20초간 수세한 후의 전단결합강도 사이에는 차이가 없었으나, 5초간 수세후의 전단결합강도는 측정치의 변이가 매우 컸다.
4) 부식후 타액으로 오염된 법랑질 표면은 5초, 20초간 및 30초간 수세후 및 재부식 한 후의 브라켓접착레진의 전단결합강도 사이에 차이가 없었으나, 5초간 수세만한 군의 전단결합강도는 변이가 매우 컸다.
이상의 결과에 의하면 수용성 염이 생성되는 농도의 인산액으로 부식하고 5초간 수세후 불수용성 염이 생성되는 농도는 인산액으로 10초간 수세후에, 그리고 타액오염된 부식표면을 재부식없이 20초간 수세후에 브라켓을 접착하면 임상적으로 유용한 브라켓 접착레진의 전단 결합강도를 얻을 수 있을 것으로 추정된다.
The aim of present study in vitro was to evaluate and compare the effects of different washing times of enamels etched with low phosphoric acid solution which makes unsoluble salts and etched but contaminated with saliva on shear bond strength of an orthodontic adhesive to enamel, and to observe the washing effect on the etched enamel surface by scanning electron microscope.
All brackets were bonded with Mono-Lok2 on the labial surface of extracted human bicuspids after etching with 20w/w% and 37w/w% phosphoric acid solution for 60seconds and then washing for 0, 5, 10 and 20seconds respectedly. After etching with 37w/w% phosphoric acid solution and contaminating with saliva for 30seconds and then washing for 0, 5, 20 and 30seconds and re-etching for 10seconds.
After 24hours passed in the 37℃ water bath, the shear bond strengths were measured on Universal Test Machine. The data were evaluated and tested by ANOVA and Duncan`s multiple range test, and those results were as follows.
1. There was no significant differences between (P>0.05) shear bond strength of bonded brackets with 5, 10, 20seconds washing etched enamel using 37%w/w% phosphoric acid solution.
2. The shear bond strength of bonded brackets with 20w/w% phosphoric acid and then washing for 5seconds showed bonded strength durable to occlusal force but its coefficiency score was high and etched surface was not cleaned completely and therefore it was assumed that its clinical application is not applicable.
3. There was no significant differences between (P>0.05) shear bond strengths of bonded brckets with washing for 5seconds etched enamel using 37w/w% phosphoric acid solution and 10, 20 seconds washing etched enamel using 20w/w% phosphoric acid solution.
4. The shear bond strength of washing for 5seconds etched enamel which was contaminated with saliva showed sufficient bonded strength durable to occlusal force but its coefficiency score was high and therefore its clinical application was not applicable.
5. After etching, the sample contaminated with saliva showed the sufficient shear bond strength even washing 20seconds without re-etching.
분석정보
서지정보 내보내기(Export)
닫기소장기관 정보
닫기권호소장정보
닫기오류접수
닫기오류 접수 확인
닫기음성서비스 신청
닫기음성서비스 신청 확인
닫기이용약관
닫기학술연구정보서비스 이용약관 (2017년 1월 1일 ~ 현재 적용)
학술연구정보서비스(이하 RISS)는 정보주체의 자유와 권리 보호를 위해 「개인정보 보호법」 및 관계 법령이 정한 바를 준수하여, 적법하게 개인정보를 처리하고 안전하게 관리하고 있습니다. 이에 「개인정보 보호법」 제30조에 따라 정보주체에게 개인정보 처리에 관한 절차 및 기준을 안내하고, 이와 관련한 고충을 신속하고 원활하게 처리할 수 있도록 하기 위하여 다음과 같이 개인정보 처리방침을 수립·공개합니다.
주요 개인정보 처리 표시(라벨링)
목 차
3년
또는 회원탈퇴시까지5년
(「전자상거래 등에서의 소비자보호에 관한3년
(「전자상거래 등에서의 소비자보호에 관한2년
이상(개인정보보호위원회 : 개인정보의 안전성 확보조치 기준)개인정보파일의 명칭 | 운영근거 / 처리목적 | 개인정보파일에 기록되는 개인정보의 항목 | 보유기간 | |
---|---|---|---|---|
학술연구정보서비스 이용자 가입정보 파일 | 한국교육학술정보원법 | 필수 | ID, 비밀번호, 성명, 생년월일, 신분(직업구분), 이메일, 소속분야, 웹진메일 수신동의 여부 | 3년 또는 탈퇴시 |
선택 | 소속기관명, 소속도서관명, 학과/부서명, 학번/직원번호, 휴대전화, 주소 |
구분 | 담당자 | 연락처 |
---|---|---|
KERIS 개인정보 보호책임자 | 정보보호본부 김태우 | - 이메일 : lsy@keris.or.kr - 전화번호 : 053-714-0439 - 팩스번호 : 053-714-0195 |
KERIS 개인정보 보호담당자 | 개인정보보호부 이상엽 | |
RISS 개인정보 보호책임자 | 대학학술본부 장금연 | - 이메일 : giltizen@keris.or.kr - 전화번호 : 053-714-0149 - 팩스번호 : 053-714-0194 |
RISS 개인정보 보호담당자 | 학술진흥부 길원진 |
자동로그아웃 안내
닫기인증오류 안내
닫기귀하께서는 휴면계정 전환 후 1년동안 회원정보 수집 및 이용에 대한
재동의를 하지 않으신 관계로 개인정보가 삭제되었습니다.
(참조 : RISS 이용약관 및 개인정보처리방침)
신규회원으로 가입하여 이용 부탁 드리며, 추가 문의는 고객센터로 연락 바랍니다.
- 기존 아이디 재사용 불가
휴면계정 안내
RISS는 [표준개인정보 보호지침]에 따라 2년을 주기로 개인정보 수집·이용에 관하여 (재)동의를 받고 있으며, (재)동의를 하지 않을 경우, 휴면계정으로 전환됩니다.
(※ 휴면계정은 원문이용 및 복사/대출 서비스를 이용할 수 없습니다.)
휴면계정으로 전환된 후 1년간 회원정보 수집·이용에 대한 재동의를 하지 않을 경우, RISS에서 자동탈퇴 및 개인정보가 삭제처리 됩니다.
고객센터 1599-3122
ARS번호+1번(회원가입 및 정보수정)