KCI등재
LCD 구동 모듈 PCB의 자동 기능 검사를 위한 Emulated Vision Tester = Emulated Vision Tester for Automatic Functional Inspection of LCD Drive Module PCB
저자
주영복(Young-Bok Joo) ; 한찬호(Chan-Ho Han) ; 박길흠(Kil-Houm Park) ; 허경무(Kyung-Moo Huh)
발행기관
학술지명
電子工學會論文誌-SC (System and control)(Journal of the institute of electronics engineers of Korea )
권호사항
발행연도
2009
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI등재
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
22-27(6쪽)
KCI 피인용횟수
1
제공처
소장기관
본 논문에서는 LCD 구동 모듈 PCB의 기능 검사를 위한 자동 검사 시스템인 EVT (Emulated Vision Tester)를 제안하고 구현하였다. 기존의 대표적인 자동검사 방법으로는 전기적 검사나 영상기반 검사방식이 있으나 전기적 검사만으로는 Timing이 주요한 변수가 되는 LCD 장비에서는 검출할 수 없는 구동불량이 존재하며 영상기반 검사는 영상획득에 일관성이 결여되거나 Gray Scale의 구분이 불명확하여 검출결과의 재현성이 떨어진다. EVT 시스템은 Pattern Generator에서 인가된 입력 패턴 신호와 구동 모듈을 통한 후 출력되는 디지털 신호를 직접 비교하여 패턴을 검사하고 아날로그 신호 (전압, 저항, 파형)의 이상 여부도 신속 정확하게 검사할 수 있는 하드웨어적인 자동 검사 방법이다. 제안된 EVT 검사기는 높은 검출 신뢰도와 빠른 처리 속도 그리고 간결한 시스템 구성으로 원가 절감 및 전공정 검사 자동화의 실현을 가능케 하는 등 많은 장점을 가진다.
더보기In this paper, an automatic functional inspection system EVT (Emulated Vision Tester) for LCD drive module PCB has been proposed and implemented. Typical automatic inspection system such as probing methods and vision-based systems are widely known and used, however, there exist undetectable defects due to critical timing factors which they may miss to catch from LCD equipments. Especially typical vision-based systems have inconsistency on acquisition of images so that distinction between gray scales can be difficult which results in low level of performance and reliability on the inspection results. The proposed EVT system is pure hardware solution. It directly compares pattern signals from a pattern generator to output signals from LCD drive module. It also inspects variety of analog signals such as voltage, resistance, wave forms and so forth. The EVT system not only shows high performance in terms of reliability and processing speed but reduces costs on inspection and maintenance. Also, full automation of entire production line can be realized when EVT is applied in in-line inspection processes.
더보기분석정보
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2014-01-21 | 학회명변경 | 영문명 : The Institute Of Electronics Engineers Of Korea -> The Institute of Electronics and Information Engineers | |
2012-09-01 | 평가 | 학술지 통합(등재유지) | |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지(등재유지) | KCI등재 |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지(등재유지) | KCI등재 |
2007-10-04 | 학술지명변경 | 한글명 : 전자공학회논문지 - SC</br>외국어명 : System and Control | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지(등재유지) | KCI등재 |
2005-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지(등재유지) | KCI등재 |
2002-07-01 | 평가 | 등재학술지 선정(등재후보2차) | KCI등재 |
2000-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정(신규평가) | KCI후보 |
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