KCI등재후보
고압전자현미경의 의∙생물학 연구 분야에서의 활용 = The High-Voltage Electron Microscopy in Biomedical Research
저자
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
2009
작성언어
-주제어
KDC
510
등재정보
KCI등재후보,ESCI
자료형태
학술저널
수록면
73-81(9쪽)
제공처
전자현미경(Electron Microscopy)은 우수한 해상력을 제공하여, 조직이나 세포의 미세구조 연구에 다양하게 이용되나, 전자빔 투과력의 한계로 100 nm 전후의 매우 얇은 조직만을 관찰할 수 있는 제한점을 갖는다. 따라서, 좀 더 두꺼운 조직을 관찰하기 위해서 높은 가속전압을 이용하는 현미경이 개발되었다. 전자현미경의 투과력은 사용하는 가속전압에 의해 증가되며, 전압의 크기에 따라 전자현미경(Conventional Electron Microscopy), 중전압현미경(Intermediate Voltage Electron Microscopy), 고압전자현미경(High Voltage Electron Microscopy: HVEM) 및 초고압전자현미경(Ultra High Voltage Electron Microscopy)의 네 가지로 구분된다.
이중 고압전자현미경은 500~1,000 kV의 높은 가속전압에 의해 증가된 투과력을 이용, 통상적인 전자현미경보다 두꺼운 시료를 관찰할 수 있다는 장점과 높은 해상력으로 조직이나 세포의 3차원적 구조 연구에 많이 이용되고 있다.
우리나라는 2004년 초고압전자현미경이 설치되어 운용중이며, 의생물 분야뿐만 아니라 재료 기술분야에서도 활발하게 이용되고 있다. 이 논문에서는 고압전자현미경에 대한 간단한 설명과 최근 발표된 연구결과를 소개하여 형태학자들의 이해를 돕고자 한다.
Transmission electron microscopy (TEM) provides high resolution images, which are useful in studying ultrastructure of cells and tissues. We have to use very thin section about 60~100 nm thickness due to poor penetration power of the conventional TEM at 100 kV. To overcome this limitation, TEMs using higher accelerating voltage have been developed. TEMs can be categorized into conventional TEM, intermediate TEM, high voltage TEM (HVEM), and ultrahigh voltage TEM according to their accelerating voltage. HVEM using 500~1,000 kV has an enough penetration power to observe thick specimen up to 3~4 μm, which is useful understanding 3 dimensional configuration of the cell and tissue. HVEM was built up in Korea Basic Science Institute (KBSI, Daejeon, Korea) at 2004, maximum accelerating voltage is 1.3 MV in Korea. Many results showed up to the present various fields of science such as medical science, biology, agriculture and so on. Here, we briefly summarize recent biomedical applications of HVEM to provide an insight of HVEM for morphologist.
더보기서지정보 내보내기(Export)
닫기소장기관 정보
닫기권호소장정보
닫기오류접수
닫기오류 접수 확인
닫기음성서비스 신청
닫기음성서비스 신청 확인
닫기이용약관
닫기학술연구정보서비스 이용약관 (2017년 1월 1일 ~ 현재 적용)
학술연구정보서비스(이하 RISS)는 정보주체의 자유와 권리 보호를 위해 「개인정보 보호법」 및 관계 법령이 정한 바를 준수하여, 적법하게 개인정보를 처리하고 안전하게 관리하고 있습니다. 이에 「개인정보 보호법」 제30조에 따라 정보주체에게 개인정보 처리에 관한 절차 및 기준을 안내하고, 이와 관련한 고충을 신속하고 원활하게 처리할 수 있도록 하기 위하여 다음과 같이 개인정보 처리방침을 수립·공개합니다.
주요 개인정보 처리 표시(라벨링)
목 차
3년
또는 회원탈퇴시까지5년
(「전자상거래 등에서의 소비자보호에 관한3년
(「전자상거래 등에서의 소비자보호에 관한2년
이상(개인정보보호위원회 : 개인정보의 안전성 확보조치 기준)개인정보파일의 명칭 | 운영근거 / 처리목적 | 개인정보파일에 기록되는 개인정보의 항목 | 보유기간 | |
---|---|---|---|---|
학술연구정보서비스 이용자 가입정보 파일 | 한국교육학술정보원법 | 필수 | ID, 비밀번호, 성명, 생년월일, 신분(직업구분), 이메일, 소속분야, 웹진메일 수신동의 여부 | 3년 또는 탈퇴시 |
선택 | 소속기관명, 소속도서관명, 학과/부서명, 학번/직원번호, 휴대전화, 주소 |
구분 | 담당자 | 연락처 |
---|---|---|
KERIS 개인정보 보호책임자 | 정보보호본부 김태우 | - 이메일 : lsy@keris.or.kr - 전화번호 : 053-714-0439 - 팩스번호 : 053-714-0195 |
KERIS 개인정보 보호담당자 | 개인정보보호부 이상엽 | |
RISS 개인정보 보호책임자 | 대학학술본부 장금연 | - 이메일 : giltizen@keris.or.kr - 전화번호 : 053-714-0149 - 팩스번호 : 053-714-0194 |
RISS 개인정보 보호담당자 | 학술진흥부 길원진 |
자동로그아웃 안내
닫기인증오류 안내
닫기귀하께서는 휴면계정 전환 후 1년동안 회원정보 수집 및 이용에 대한
재동의를 하지 않으신 관계로 개인정보가 삭제되었습니다.
(참조 : RISS 이용약관 및 개인정보처리방침)
신규회원으로 가입하여 이용 부탁 드리며, 추가 문의는 고객센터로 연락 바랍니다.
- 기존 아이디 재사용 불가
휴면계정 안내
RISS는 [표준개인정보 보호지침]에 따라 2년을 주기로 개인정보 수집·이용에 관하여 (재)동의를 받고 있으며, (재)동의를 하지 않을 경우, 휴면계정으로 전환됩니다.
(※ 휴면계정은 원문이용 및 복사/대출 서비스를 이용할 수 없습니다.)
휴면계정으로 전환된 후 1년간 회원정보 수집·이용에 대한 재동의를 하지 않을 경우, RISS에서 자동탈퇴 및 개인정보가 삭제처리 됩니다.
고객센터 1599-3122
ARS번호+1번(회원가입 및 정보수정)