송수신 모드 배열 코일 와전류 탐촉자의 특성 연구 및 이를 이용한 표면검사

국문 초록 (Abstract)

배열 와전류 기술은 2차원적으로 나란히 정열된 다수의 와전류 코일로 구성된 탐촉자 면적에 대하여 기계적인 이동없이 전기적으로 주사할 수 있다. 단일 코일을 사용하는 와전류 기술과 비교하여 탐촉자가 한 번의 이동으로 넓은 영역을 검사할 뿐만 아니라 데이터 해석이 용이하여 검사 속도와 신뢰성을 향상시키는 장점이 있다. 이번 연구에서는 2×16 코일 배열의 배열 와전류 탐촉자와 순차적으로 송수신 코일을 선택하고 송수신 모드로 동작시키는 다중화기기를 개발하였다. 이 탐촉자를 이용하여 다양한 종류의 시편을 제작하여 표면검사를 수행하고, 와전류 신호 및 C-scan을 이미지 분석을 통해 송수신 모드 배열 와전류 기술의 특성에 대해 연구하였다.

다국어 초록 (Multilingual Abstract)

Eddy current array (ECA) technology provides the ability to electronically scan without mechanical scanning for a footprint of probe that consists of several eddy current coils arranged side-by-side and two dimensionally. Compared to single-coil eddy current technology, the ECA technology has a higher inspection speed and reliability because a large area can be covered in a single-probe pass and the obtained images can facilitate data interpretation. In this study, we developed an eddy current array probe with 2×16 coil arrays and a multiplexer that can select transmit-receive coils sequentially and operate in transmit-receive mode. Surface inspection was performed using this probe for specimens that had various flaws and the characteristics of transmit-receive mode ECA technology was studied through an analysis of the obtained eddy current signals and C-scan images.

목차 (Table of Contents)

• 초록
• Abstract
• 1. 서론
• 2. 배열 와전류 탐촉자 및 와전류 신호 다중화 기기 개발
• 3. 실험장치 구성 및 시편
• 4. Calibration
• 5. 송수신 배열 와전류 탐촉자의 특성 평가
• 6. 표면검사 결과
• 7. 결론
• References

참고문헌 (Reference)

• 1 M. Wright, "Eddy Current Array Technology" Eclipse Scientific Products Inc 33-52, 2014
• 2 N. Cardillo, "EC Array Probe Technology for Tube and Surface Inspection (Probe, Tester, Softwares)" 1-51, 2016
• 3 C. W. Hwang, "Detection of SCC using Eddy Current Array" 2014
• 4 J. Renaud, "Advanced ET Array Probe Principals for Tubing and Surface Application" 1-36, 2015