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DSLR 카메라를 이용한 단일슬릿과 이중슬릿 회절무늬의 측정과 분석 = Measurements and Analysis of Both Single and Double Slit Diffraction Patterns by Using a DSLR Camera
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2015
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KCI등재
자료형태
학술저널
수록면
113-121(9쪽)
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물리 탐구실험에 활용할 수 있도록 상용 DSLR 카메라를 이용하여 단일슬릿과 이중슬릿 회절무늬를 촬영하였다. 카메라의 CMOS 이미지 센서의 픽셀들에 저장된 회절무늬들의 세기에 해당하는 JPEG 파일의 2진수 비트값은 Matlab 프로그램을 이용하여 10 진수값으로 변환하였다. 추출된 비트값은 통계 분석용 Origin 프로그램을 이용하여 회절에 대한 이론적인 함수로 각각 적합하였다. 효과적인 탐구 실험을 위하여 카메라 촬영의 과정과 기술에 대한 응용을 상세히 기술하였다. 결과적으로, 촬영된 회절무늬들의 JPEG 사진의 비트값을 이론적인 회절 함수로 적합하여 3 개의 매개변수를 - 슬릿 폭, 슬릿 사이의 간격 및 스크린과 슬릿 사이의 거리 - 유의미하게 구할 수 있었다.
더보기Both single slit and double slit diffraction patterns were photographed with a commercial digital single lens refractor (DSLR) camera for school physics experiments. The photographed JPEG file's binary bitmap data which correspond to diffraction intensities were transformed to decimal bitmap data by the Matlab software. This transformed bitmap data were fitted by well known theoretical single slit and double slit diffraction functions using the statistical Origin pro(ver.8.0) package. The application of our experimental procedures and techniques were described in details for school physics inquiry activities. From both the bit map data and theoretical functions, three important experimental parameters (i.e., slit width, slit interval, and distance between slit and screen) were obtained by computer analysis with satisfaction.
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