KCI등재
SCOPUS
외부 자기장하에서 전기증착에 의해 ITO 기판 위에 성장시킨 Mn-oxide 박막의 형성운동학 = Growth Kinetics of Mn-oxide Thin Films Electrodeposited on ITO under an External Magnetic Field
Mn-oxide thin films were grown directly on indium-tin-oxide (ITO) substrates by using pulsed electrodeposition in a 0.3-M Mn(NO₃)₂ aqueous electrolyte solution. In order to investigate the magnetic field’s effect on the nucleation and growth processes, we exposed the reaction cell in external magnetic fields ranging from 1 kOe to 5 kOe. The magnetic fields were applied both parallel and perpendicular to the surfaces of the ITO substrates. The evolution of the reduction current versus deposition time was also monitored in order to investigate the growth mode of the Mn₃O₄thin films. Under the application of B⊥ and BⅡ, the crystallographic structure and the surface morphologies for the samples were investigated by using X-ray diffraction (XRD) and field-emission scanning electron microscope (FESEM), respectively. We found that single-phase Mn₃O₄thin films with an orthorhombic structure were grown on ITO substrates. We have known that the orientation of the crystal growth and the surface morphology of Mn₃O₄thin films are strongly affected by the orientation of the external magnetic field.
더보기전기 화학적 증착법을 이용하여 0.3-M Mn(NO₃)₂수용액 내에서 ITO (indium tin oxide) 기판위에 Mn-oxide 박막을 직접 성장시켰다. 박막의 성장 및 핵형성 과정에 있어 자기장 효과를 조사하기 위하여 전기증착이 진행되는 동안 반응셀은 외부 자기장에 노출시켰으며, 증착 초기단계에서 시간에 따른 증착전류의 변화를 조사하였다. 자기장 세기는 1 kOe-5 kOe 영역에서 변화시켰으며, ITO 기판 표면에 수직 및 수평방향으로 자기장을 인가하였다. 이 경우 자기장 방향에 따른 박막의 결정구조 및 표면형태 변화를 X-선 회절 (X-ray diffraction: XRD) 스펙트럼과 전계방출주사전자현미경 (Field Emission Scanning Electron Microscope: FESEM)을 이용하여 조사하였다. 자기장하에서 사방정 구조 (orthorhombic structure)를 가진 단일상 (single phase) Mn₃O₄박막이 ITO 기판위에 성장하였다. 수직자기장(B⊥)하에서 Mn₃O₄박막이 성장될 경우 수평자기장 (BⅡ)의 경우와 다른 결정성장 방향 및 표면 형태를 보였다.
더보기분석정보
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2023 | 평가예정 | 해외DB학술지평가 신청대상 (해외등재 학술지 평가) | |
2020-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) | KCI등재 |
2016-09-05 | 학술지명변경 | 외국어명 : Sae Mulli(New Physics) -> New Physics: Sae Mulli | KCI등재 |
2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2004-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2003-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | KCI후보 |
2002-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 유지 (등재후보1차) | KCI후보 |
1999-07-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.18 | 0.18 | 0.17 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.15 | 0.14 | 0.3 | 0.1 |
서지정보 내보내기(Export)
닫기소장기관 정보
닫기권호소장정보
닫기오류접수
닫기오류 접수 확인
닫기음성서비스 신청
닫기음성서비스 신청 확인
닫기이용약관
닫기학술연구정보서비스 이용약관 (2017년 1월 1일 ~ 현재 적용)
학술연구정보서비스(이하 RISS)는 정보주체의 자유와 권리 보호를 위해 「개인정보 보호법」 및 관계 법령이 정한 바를 준수하여, 적법하게 개인정보를 처리하고 안전하게 관리하고 있습니다. 이에 「개인정보 보호법」 제30조에 따라 정보주체에게 개인정보 처리에 관한 절차 및 기준을 안내하고, 이와 관련한 고충을 신속하고 원활하게 처리할 수 있도록 하기 위하여 다음과 같이 개인정보 처리방침을 수립·공개합니다.
주요 개인정보 처리 표시(라벨링)
목 차
3년
또는 회원탈퇴시까지5년
(「전자상거래 등에서의 소비자보호에 관한3년
(「전자상거래 등에서의 소비자보호에 관한2년
이상(개인정보보호위원회 : 개인정보의 안전성 확보조치 기준)개인정보파일의 명칭 | 운영근거 / 처리목적 | 개인정보파일에 기록되는 개인정보의 항목 | 보유기간 | |
---|---|---|---|---|
학술연구정보서비스 이용자 가입정보 파일 | 한국교육학술정보원법 | 필수 | ID, 비밀번호, 성명, 생년월일, 신분(직업구분), 이메일, 소속분야, 웹진메일 수신동의 여부 | 3년 또는 탈퇴시 |
선택 | 소속기관명, 소속도서관명, 학과/부서명, 학번/직원번호, 휴대전화, 주소 |
구분 | 담당자 | 연락처 |
---|---|---|
KERIS 개인정보 보호책임자 | 정보보호본부 김태우 | - 이메일 : lsy@keris.or.kr - 전화번호 : 053-714-0439 - 팩스번호 : 053-714-0195 |
KERIS 개인정보 보호담당자 | 개인정보보호부 이상엽 | |
RISS 개인정보 보호책임자 | 대학학술본부 장금연 | - 이메일 : giltizen@keris.or.kr - 전화번호 : 053-714-0149 - 팩스번호 : 053-714-0194 |
RISS 개인정보 보호담당자 | 학술진흥부 길원진 |
자동로그아웃 안내
닫기인증오류 안내
닫기귀하께서는 휴면계정 전환 후 1년동안 회원정보 수집 및 이용에 대한
재동의를 하지 않으신 관계로 개인정보가 삭제되었습니다.
(참조 : RISS 이용약관 및 개인정보처리방침)
신규회원으로 가입하여 이용 부탁 드리며, 추가 문의는 고객센터로 연락 바랍니다.
- 기존 아이디 재사용 불가
휴면계정 안내
RISS는 [표준개인정보 보호지침]에 따라 2년을 주기로 개인정보 수집·이용에 관하여 (재)동의를 받고 있으며, (재)동의를 하지 않을 경우, 휴면계정으로 전환됩니다.
(※ 휴면계정은 원문이용 및 복사/대출 서비스를 이용할 수 없습니다.)
휴면계정으로 전환된 후 1년간 회원정보 수집·이용에 대한 재동의를 하지 않을 경우, RISS에서 자동탈퇴 및 개인정보가 삭제처리 됩니다.
고객센터 1599-3122
ARS번호+1번(회원가입 및 정보수정)