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The Post-Annealing Effect on the Pinning Properties of GdBa2Cu3O 7−δ Coated Conductors via RCE-DR
저자
Oh, Won-Jae ; Park, Insung ; Lee, Jae-Hun ; Lee, Hunju ; Moon, Seung-Hyun ; Shinde, Kiran ; Chung, Kookchae ; Yoo, Sang-Im
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
2018
작성언어
-등재정보
SCI,SCIE,SCOPUS
자료형태
학술저널
수록면
1-5(5쪽)
제공처
<P>We report the post-annealing effect on the pinning properties of GdBa<SUB>2</SUB>Cu<SUB>3</SUB>O<SUB>7−δ </SUB> (GdBCO) coated conductors (CCs) fabricated by a reactive co-evaporation deposition and reaction process. The GdBCO CCs annealed at 750 °C in the PO<SUB>2</SUB> of 300 mtorr for 15 min show the most enhanced critical current densities (<I>J<SUB>c</SUB></I>) for <I>B</I>//<I>c</I> due to the stacking faults (SF) piled up along the <I>c</I>-axis. The minimum <I>J<SUB>c</SUB></I> values of post-annealed samples in relatively higher fields such as 5 T at 77 K and 7 T at 65 K were larger than those of pristine sample; although their minimum <I>J<SUB>c</SUB></I> values were lower in relatively lower fields such as 1 T at 77 K and 3 T at 65 K. In-field <I>J<SUB>c</SUB> </I> values for <I>B</I>//<I>ab</I> were closely related to the density of SFs within samples. Analysis results by transmission electron microscopy revealed that the SF density was remarkably reduced after the post-annealing process, which is responsible for enhanced minimum <I>J<SUB>c</SUB></I> values and significantly degraded <I>J<SUB>c</SUB></I> values for <I>B</I>//<I>ab</I> in relatively higher fields.</P>
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