새로운 기술수준 측정 방법론 개발에 대한 이론적 접근
저자
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
2007
작성언어
Korean
주제어
KDC
506
자료형태
학술저널
수록면
1-45(45쪽)
제공처
과학기술 수준을 정확히 측정·분석하기 위해서는 우리 기술수준과 비교대상의 위치, 그리고 해당 기술의 이론적인 상한 수준을 우선 전제해야만 한다. 그리고 각각의 기술변화 정도를 파악하는 것이 추가적으로 필요하다.우리나라 및 비교대상에 대한 동태적 측면이 고려되어 현재의 위치와 함께 과정과 경로도 중요시 되어야 한다. 이를 위해서는 기술발전 단계와 성장곡선 개념을 활용해야 한다.우리나라 기술수준의 향상은 뚜렷하게 보이고 있으나 같은 기간에 지속적으로 변화하고 있는 세계최고기술 수준과는 여전히 격차가 존재한다. 실질적인 추격의 가능성은 그리 크지 않은 것으로 보인다.특히, 바이오신약·장기 분야와 지능형로봇 분야의 경우에는 세계최고기술 수준과의 격차기간이 더욱 벌어지고 있는 것으로 추정된다.본 연구는 기술수준 측정과 분석을 성장곡선 유형의 추정을 통해 위상분석과 변화과정을 파악하여 궁극적인 추격의 가능성을 제시한다.
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