KCI등재
SCOPUS
SCIE
Ion tracks in ultrathin polymer films: The role of the substrate
저자
Thomaz Raquel (Pontifical Catholic University of Rio Grande do Sul) ; Lima Nathan W. (Federal University of Rio Grande do Sul) ; Teixeira Diego (Pontifical Catholic University of Rio Grande do Sul) ; Gutierres Leandro I. (Pontifical Catholic University of Rio Grande do Sul) ; Alencar Igor (Pontifical Catholic University of Rio Grande do Sul) ; Trautmann Christina (GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung) ; Grande Pedro L. (Federal University of Rio Grande do Sul) ; Papaléo Ricardo M. (Pontifical Catholic University of Rio Grande do Sul)
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
2021
작성언어
English
주제어
등재정보
KCI등재,SCOPUS,SCIE
자료형태
학술저널
수록면
91-97(7쪽)
KCI 피인용횟수
0
DOI식별코드
제공처
Surface damage produced by single MeV-GeV heavy ions impacting ultrathin polymer films has been shown to be weaker than those observed under bulk (thick film) conditions. The decrease in damage efficiency has been attributed to the suppression of long-range effects arising from excited atoms lying deeply in the solid. This raises the possibility that the substrate of the films itself is relevant to the radiation effects seen at the top surface. Here, the role of the substrate on cratering induced by individual 1.1 GeV Au ions in ultrathin poly(methyl methacrylate) (PMMA) layers is investigated. Materials of different thermal and electrical properties (Si, SiO2, and Au) are used as substrates to deposit PMMA thin films of various thicknesses from ~1 to ~300 nm. We show that in films thinner than ~40 nm craters are modulated by the underlying substrate to a degree that depends on the transport properties of the medium. Crater size in ultrathin films deposited on the insulating SiO2 is larger than in similar films deposited on the conducting Au layer. This is consistent with an inefficient coupling of the electronic excitation energy to the atomic cores in metals. On the other hand, the damage on films deposited on SiO2 is not very different from the Si substrate with a native oxide layer, suggesting, in addition, poor energy transmission across the film/substrate interface. The experimental observations are also compared to calculations from an analytical model based on energy addition and transport from the excited ion track, which describe only partially the results.
더보기분석정보
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2023 | 평가예정 | 해외DB학술지평가 신청대상 (해외등재 학술지 평가) | |
2020-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) | KCI등재 |
2008-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | KCI후보 |
2003-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 1.8 | 0.18 | 1.17 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.92 | 0.77 | 0.297 | 0.1 |
서지정보 내보내기(Export)
닫기소장기관 정보
닫기권호소장정보
닫기오류접수
닫기오류 접수 확인
닫기음성서비스 신청
닫기음성서비스 신청 확인
닫기이용약관
닫기학술연구정보서비스 이용약관 (2017년 1월 1일 ~ 현재 적용)
학술연구정보서비스(이하 RISS)는 정보주체의 자유와 권리 보호를 위해 「개인정보 보호법」 및 관계 법령이 정한 바를 준수하여, 적법하게 개인정보를 처리하고 안전하게 관리하고 있습니다. 이에 「개인정보 보호법」 제30조에 따라 정보주체에게 개인정보 처리에 관한 절차 및 기준을 안내하고, 이와 관련한 고충을 신속하고 원활하게 처리할 수 있도록 하기 위하여 다음과 같이 개인정보 처리방침을 수립·공개합니다.
주요 개인정보 처리 표시(라벨링)
목 차
3년
또는 회원탈퇴시까지5년
(「전자상거래 등에서의 소비자보호에 관한3년
(「전자상거래 등에서의 소비자보호에 관한2년
이상(개인정보보호위원회 : 개인정보의 안전성 확보조치 기준)개인정보파일의 명칭 | 운영근거 / 처리목적 | 개인정보파일에 기록되는 개인정보의 항목 | 보유기간 | |
---|---|---|---|---|
학술연구정보서비스 이용자 가입정보 파일 | 한국교육학술정보원법 | 필수 | ID, 비밀번호, 성명, 생년월일, 신분(직업구분), 이메일, 소속분야, 웹진메일 수신동의 여부 | 3년 또는 탈퇴시 |
선택 | 소속기관명, 소속도서관명, 학과/부서명, 학번/직원번호, 휴대전화, 주소 |
구분 | 담당자 | 연락처 |
---|---|---|
KERIS 개인정보 보호책임자 | 정보보호본부 김태우 | - 이메일 : lsy@keris.or.kr - 전화번호 : 053-714-0439 - 팩스번호 : 053-714-0195 |
KERIS 개인정보 보호담당자 | 개인정보보호부 이상엽 | |
RISS 개인정보 보호책임자 | 대학학술본부 장금연 | - 이메일 : giltizen@keris.or.kr - 전화번호 : 053-714-0149 - 팩스번호 : 053-714-0194 |
RISS 개인정보 보호담당자 | 학술진흥부 길원진 |
자동로그아웃 안내
닫기인증오류 안내
닫기귀하께서는 휴면계정 전환 후 1년동안 회원정보 수집 및 이용에 대한
재동의를 하지 않으신 관계로 개인정보가 삭제되었습니다.
(참조 : RISS 이용약관 및 개인정보처리방침)
신규회원으로 가입하여 이용 부탁 드리며, 추가 문의는 고객센터로 연락 바랍니다.
- 기존 아이디 재사용 불가
휴면계정 안내
RISS는 [표준개인정보 보호지침]에 따라 2년을 주기로 개인정보 수집·이용에 관하여 (재)동의를 받고 있으며, (재)동의를 하지 않을 경우, 휴면계정으로 전환됩니다.
(※ 휴면계정은 원문이용 및 복사/대출 서비스를 이용할 수 없습니다.)
휴면계정으로 전환된 후 1년간 회원정보 수집·이용에 대한 재동의를 하지 않을 경우, RISS에서 자동탈퇴 및 개인정보가 삭제처리 됩니다.
고객센터 1599-3122
ARS번호+1번(회원가입 및 정보수정)