CMOS회로의 고장검출을 위한 전류 테스팅 기법 = A Current Testing Technique for CMOS Circuits
저자
정준모 (서경대학교 컴퓨터과학과)
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
1996
작성언어
Korean
KDC
004.000
자료형태
학술저널
수록면
341-359(19쪽)
제공처
본 논문에서는 전류 테스팅 기법을 이용하여 CMOS회로의 고장 검출 및 위치 결정을 보다 효율적으로 할 수 있는 구조를 제안한다. 기존의 방법에서는 정상 상태 전원 전류에 대한 관찰점이 하나였으나, 제안하는 방법에서는 정상 상태 전원 전류를 두 곳에서 관찰하여 결함으로 인한 과도한 전류가 흐르는 경우를 각각 Vdd에서 입력, 입력에서 GND, 그리고 Vdd에서 GND로 흐르는 경우로 나누어 생각함으로써 고장 검출 및 위치 결정에 유리하도록 보다 많은 고장 부류로 나누어 준다. 또한, 이 구조가 기존의 전류 테스팅 기법으로는 테스팅이 용이하지 않았던 stuck-open 고장 검출에도 쉽게 적용될 수 있음을 보인다. 제시하는 방법에서는 부가 트랜지스터를 이용하며, 정상 상태에서는 전류 경로가 형성되지 않는 CMOS회로에 강제로 전류 경로가 형성되도록 하고, 만일 stuck-open 고장으로 이 경로가 없어지게 되면 해당 전류 경로에 있는 MOS 트랜지스터에 stuck-open 고장이 있음을 알게 된다.
고장을 인가한 회로에 대하여 spice 시뮬레이션을 하고, 트랜지스터 단락 모델을 이용하는 전류 경로 탐색 프로그램을 SUN Sparc Workstation에서 C 언어로 작성하여 전류 경로 탐색 실험을 함으로써, 제안하는 구조의 타당성과 효용성을 입증한다.
In this paper a structure that can detect and locate faults in CMOS circuits more efficiently using current testing techniques is proposed. In the conventional method, the observation point of power supply current for stead state was only one, but in proposed method more fault classes are divided for fault detection and location through the observation of power supply current at two points. Also, it is shown that this structure can be easily applied in detection of stuck-open fault which is not easy to test circuits with conventional current testing techniques. In the presented method, a extra transistor is used, and current path is made compulsorily in the CMOS circuits in which no current path can be established in steady state, then it can be known that stuck-open fault is in the MOS transistor on the considering current path, if this path disappears due to stuck-open fault.
Through the spice simulation of fault circuits and the experiment using the program of current path search based on transistor of short model written in C language on SUN Spark workstation, the validity and effectiveness is shown.
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