네마틱-스멕틱A 상전이 근처의 네마틱상에서 상관거리 임계지수(??, ??)의 시료 두께 의존성에 관한 광 산란 실험 연구 = A Light Scattering Study on the Sample thickness dependence of the Critical exponents(??, ??) in the nematic phase near Nematic to Smectic-A Phase Transition
저자
김두철 (제주대학교 자연과학대학 물리학과) ; 임동건 (고려대학교 이과대학 물리학과) ; 이민규 (고려대학교 이과대학 물리학과)
발행기관
濟州大學校 基礎科學硏究所(RESEARCH INSTITUTE FOR BASIC SCIENCES CHEJU NATIONAL UNIVERSITY)
학술지명
基礎科學硏究(THE JOURNAL OF BASIC SCIENCES CHEJU NATIONAL UNIVERSITY)
권호사항
발행연도
1991
작성언어
Korean
KDC
404
자료형태
학술저널
수록면
53-59(7쪽)
제공처
소장기관
광 산란 실험 기술을 이용하여 세로 및 가로 방향 상관거리(??, ??)의 임계지수(??, ??)의 시료 두께 의존성을 연구하였다. 시료의 두께는 Teflon(또는 Mylar)필름을 이용하여 25-500μm로 제작하였다. 각 시료들의 네마틱-스멕틱A 상전이 근처의 네마틱상에서 산란된 빛의 세기를 온도의 함수로 측정하였다. 측정된 데이터를 분석한 결과 시료의 두께가 증가함에 따라 임계지수의 값은 증가함을 보였으며, 두 값의 이방성(??)은 점차 감소하였다. 그러나 250μm 이상인 시료들에서는 임계지수 값들이 시료 두께에 무관함을 보였으며, 두 임계지수(??, ??)의 값은 오차 범위내에서 같아지며, 그 값도 de Gennes 모델에서 제시한 값(??)과 일치함을 보였다.
By utilizing Rayleigh scattering technique, we have studied the sample thickness dependence of the critical exponents(??, ?? )of longitudinal and transverse correlation lengths(??, ??). In this study we have varied the thickness of samples from 12μm to 500μm using Teflon (or Mylar) film. For each sample, measurements of the temperature dependence of scattered light intensity in the nematic phase near nematic to smectic-A phase transition have been made. From analysis of scattering data, it is found that as the thickness of sample increase the values of critical exponents appear to increase and its anisotropy(??) become smaller. But for the samples thicker than 250μm, the values of critical exponents appear to be independent of the thickness and two critical exponents(??) have the same value within errors, which is consistent with de Gennes's models(??).
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