KCI등재
S곡선 기반 기술적 불연속성(Technological discontinuity)의 정의 및 측정 = 로직 반도체의 기술대체 사례
저자
발행기관
학술지명
한국산학기술학회논문지(Journal of Korea Academia-Industrial cooperation Society)
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발행연도
2017
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI등재
자료형태
학술저널
수록면
102-108(7쪽)
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기존 기술과 신기술의 확산 및 대체 과정에서 발생하는 기술적 불연속성 현상은 단일 기술 및 복수 기술의 확산 및 대체 현상의 거동을 이해하는데 중요하다. 본 연구에서는 기술적 불연속성 구간의 개념에 대해 정의하고, 이 구간을 측정할 수 있는 정량적 지표들에 대한 측정 모형을 개발하였다. 문헌리뷰 및 모형 도출을 바탕으로 기술적 불연속성 구간에 대해 정의 및 측정 모형을 제시하였고, 도출한 모형의 정합성을 반도체 산업의 기술대체 사례를 바탕으로 검증하였다. 기술적 불연속성 구간은 기존 기술과 신기술의 S곡선이 시간에 따라 동시에 존재하면서, 기존 기술의 성능이 신기술의 성능보다 높은 구간으로 정의된다. 또한 기술적 불연속 구간은 불연속 시간 및 불연속 성능으로 측정가능하며, 불연속 시간 및 불연속 성능지표는 불연속 구간에서의 기존 기술과 신기술의 시간 차이 및 성능 차이로 모형화 된다. 본 연구는 기술적 불연속성 현상에 대한 이해뿐만 아니라 기술 확산 및 대체 현상의 전체적인 거동의 이해에 유용할 것이다.
더보기The phenomenon of technological discontinuity which occurs during technological diffusion and substitution between incumbents and new technology is important to understand the behavior of technology diffusion and substitution of single and multiple technologies. Our research defined the concept of technological discontinuity and developed a model capable of measuring the region of technological discontinuity. Based on a literature review and a model development, we proposed a definition and a model regarding technological discontinuity.The accuracy of the model is verified by applying it on a semiconductor industry case. The technological discontinuity is defined as the region in which both the incumbent and new technology co-exist and the performance of the incumbent technology is better than that of the new technology. In addition, we can model the technological discontinuity using discontinuous time and discontinuous performance. This research will be very useful to understand not only technological discontinuity but also technology diffusion or substitution.
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