KCI등재
사물인터넷을 접목한 반도체 소자 공정 최적화 시뮬레이터 개발 = Development of a Simulator for Optimizing Semiconductor Manufacturing Incorporating Internet of Things
저자
당현식 (서울과학기술대학교) ; 조동희 (서울과학기술대학교) ; 김종서 (서울과학기술대학교) ; 정태호 (서울과학기술대학교) ; Dang, Hyun Shik ; Jo, Dong Hee ; Kim, Jong Seo ; Jung, Taeho 연구자관계분석
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학술지명
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2017
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Korean
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학술저널
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35-41(7쪽)
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사물 인터넷 기술의 발전에 따라 모바일 기기와 센서 등에 대한 수요가 급증하고 있으며, 다양한 전자 제품에 대한 개발이 이루어지고 있다. 이러한 신제품들에 사용될 반도체 소자와 재료, 공정 장비들도 다양해지고 있으며, 공정마다 최적의 공정 변수를 찾는 과정들이 수반된다. 효율적인 공정 최적화를 위하여 시뮬레이션을 이용하거나 실시간 공정 제어 시스템을 사용하여 공정 변수를 찾을 수 있겠지만, 공정 데이터의 피드백과 비용, 범용성 등의 한계가 있다. 본 연구에서는 효율적으로 최적의 공정 변수를 찾기 위해 소자의 목표 특성과 제작된 소자의 특성을 비교하여 공정 장비를 자동으로 제어하는 시뮬레이터를 개발하였다. 이 시뮬레이터의 범용성을 극대화하기 위하여 온라인 기능이 구현되어 있지 않은 반도체 공정 장비에 장착할 수 있는 각종 센서 모듈과 조작 모듈들을 제작하였고, 이 모듈들을 원격에서 접근이 가능하도록 사물 인터넷 기술을 접목하였다. 최적의 공정 변수를 찾기 위한 방법은 딥러닝 기반의 인공지능을 사용하였다. 제안하는 시뮬레이터는 기존의 공정 장비들을 온라인으로 제어하고 최적의 공정 변수들을 찾을 수 있기 때문에 신제품 개발에 필요한 시간과 비용을 줄일 수 있을 것으로 기대된다.
더보기With the advances in Internet over Things, the demand in diverse electronic devices such as mobile phones and sensors has been rapidly increasing and boosting up the researches on those products. Semiconductor materials, devices, and fabrication processes are becoming more diverse and complicated, which accompanies finding parameters for an optimal fabrication process. In order to find the parameters, a process simulation before fabrication or a real-time process control system during fabrication can be used, but they lack incorporating the feedback from post-fabrication data and compatibility with older equipment. In this research, we have developed an artificial intelligence based simulator, which finds parameters for an optimal process and controls process equipment. In order to apply the control concept to all the equipment in a fabrication sequence, we have developed a prototype for a manipulator which can be installed over an existing buttons and knobs in the equipment and controls the equipment communicating with the AI over the Internet. The AI is based on the deep learning to find process parameters that will produce a device having target electrical characteristics. The proposed simulator can control existing equipment via the Internet to fabricate devices with desired performance and, therefore, it will help engineers to develop new devices efficiently and effectively.
더보기분석정보
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
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2026 | 평가예정 | 재인증평가 신청대상 (재인증) | |
2020-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (재인증) | KCI등재 |
2017-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (계속평가) | KCI등재 |
2013-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2010-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2006-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | KCI후보 |
2005-06-22 | 학술지명변경 | 외국어명 : 미등록 -> JOURNAL OF THE KOREA SOCIETY FOR SIMULATION | KCI후보 |
2004-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
2004-01-01 | 평가 | 등재후보 탈락 (등재후보1차) | |
2002-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 FAIL (등재후보1차) | KCI후보 |
2000-07-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.3 | 0.3 | 0.32 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.28 | 0.25 | 0.541 | 0.11 |
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