즉발방사선에 따른 CMOS소자의 Upset/Latchup 특성에 관한 연구 = The Study of Transient Radiation Effects in CMOS Devices
저자
오승찬(Seung-Chan Oh) ; 이현진(Hyun-Kin Lee) ; 이남호(Nam-Ho Lee) ; 이흥호(Heung-Ho Lee)
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
2010
작성언어
Korean
KDC
560
자료형태
학술저널
수록면
1920-1921(2쪽)
제공처
본 연구는 과도방사선(transient radiation)에 의한 CMOS 소자에서의 광전효과로 인한 Upset 및 레치업 특성을 평가하기 위한 실측체계의 구축방법에 대한 연구와 이러한 실측체계를 기반으로 한 실제 상용반도체소자에 과도방사선 실측시험을 수행하여 핵방사선에 따른 전자소자들의 피해양상에 전반적인 형태를 확인하기 목적으로 진행되었다.
이번 과도방사선 실측평가시험은 60MeV, 100㎃의 전자빔펄스를 출력할 수 있는 포항가속기연구소의 선형가속기 시설을 이용하였으며 전자빔가속기의 전자빔출력을 감마방사선으로 변환하기 위한 텅스텐 변환기를 설계하여 적용함으로써 최대 5.75×E7 rad(si)/sec의 선량율의 과도방사선 펄스에 대한 시험을 진행하였다. CMOS소자를 포함한 총 10개의 전자소자에 대한 과도방사선 실측시험결과 1개의 Device를 제외한 대부분의 디바이스에서의 upset 및 레치업 현상이 발생하는 것을 확인하였다.
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