KCI등재
SCOPUS
초고전압 투과전자현미경의 원격제어 및 데이터 획득 시스템 = Remote Access and Data Acquisition System for High Voltage Electron Microscopy
저자
안영헌 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) ; 강지선 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) ; 정현준 (서울대학교 분산처리 연구실) ; 김형석 (서울대학교 분산처리 연구실) ; 정형수 (서울대학교 분산처리 연구실) ; 한혁 (서울대학교 분산처리 연구실) ; 정종만 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) ; 구중억 (한국기초과학지원연구원 연구장비정보정책부) ; 이상동 (한국과학기술정보연구원 슈퍼컴퓨팅센터) ; 이지수 (한국과학기술정보연구원 슈퍼컴퓨팅센터) ; 조금원 (한국과학기술정보연구원 슈퍼컴퓨팅센터) ; 김윤중 (한국기초과학지원연구원 전자현미경연구부) ; 염헌영 (서울대학교 분산처리 연구실) ; Ahn, Young-Heon ; Kang, Ji-Seoun ; Jung, Hyun-Joon ; Kim, Hyeong-Seog ; Jung, Hyung-Soo ; Han, Hyuck ; Jeong, Jong-Man ; Gu, Jung-Eok ; Lee, Sang-Dong ; Lee, Jy-Soo ; Cho, Kum-Won ; Kim, Youn-Joong ; Yeom, Heon-Young
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
2006
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI등재,SCOPUS
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
7-16(10쪽)
KCI 피인용횟수
2
제공처
소장기관
가속전압 1.3MV의 초고전압투과전자현미경의 원격제어 시스템을 개발하였다. 초고전압투과전자현미경의 운영을 위한 필수적인 기능, 즉 stage조정, 시편의 tilting, TV카메라 선택과 영상 저장 등을 원격 운영시스템에 그대로 적용하였다. 특히 이 시스템은 간단한 웹 접속만으로 goniometer를 완벽하고 정밀하게 제어할 수 있으며 고해상도 디지털카메라를 제어할 수 있는 특징을 가지고 있다. 일체의 현미경 제어 신호 및 교신은 글로리아드 망을 통하여 이루어지도록 하였다. 이는 HVEM원격 운영시스템을 이용하여 국내는 물론 국제적인 공동 연구를 수행할 수 있는 가상 실험실 구축을 실현할 수 있음을 시사한다.
더보기A new remote access system for a 1.3 MV high voltage electron microscope has been developed. Almost all essential functions for HVEM operation, huck as stage control, specimen tilting, TV camera selection and image recording, are successfully embedded into this prototype of the remote system. Particularly, this system permits perfect and precise operation of the goniometer and also controls the high resolution digital camera via simple Web browsers. Transmission of control signals and communication with the microscope is accomplished via the global ring network for advanced applications development (GLORIAD). This fact makes it possible to realize virtual laboratory to carry out practical national and international HVEM collaboration by using the present system
더보기분석정보
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2022 | 평가예정 | 재인증평가 신청대상 (재인증) | |
2019-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (계속평가) | KCI등재 |
2018-12-01 | 평가 | 등재후보로 하락 (계속평가) | KCI후보 |
2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2014-03-17 | 학술지명변경 | 외국어명 : Korean Journal of Microscopy -> Applied Microscopy | KCI등재 |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2008-09-22 | 학술지명변경 | 한글명 : 한국전자현미경학회지 -> 한국현미경학회지외국어명 : Korean Journal of Electron Microscopy -> Korean Journal of Microscopy | KCI등재 |
2007-10-24 | 학회명변경 | 한글명 : 한국전자현미경학회 -> 한국현미경학회영문명 : Korean Society Of Electron Microscopy -> Korean Society Of Microscopy | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재 1차 FAIL (등재유지) | KCI등재 |
2004-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2003-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | KCI후보 |
2002-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 유지 (등재후보1차) | KCI후보 |
1999-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.11 | 0.11 | 0.12 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.12 | 0.12 | 0.273 | 0 |
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