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기반 기술 : Point Matching Method를 이용한 접지된 유전체층 위의 저항띠 격자구조에 의한 TE 산란 해석 = Analysis of TE Scattering by a Resistive Strip Grating Over a Grounded Dielectric Layer Using Point Matching Method
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2014
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Korean
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KCI등재
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학술저널
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371-375(5쪽)
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본 논문에서는 접지된 유전체층 위의 저항띠 격자구조에 의한 TE (transverse electric)산란 문제를 전자파 수치해석 방법으로 알려진 PMM (point matching method)를 이용하여 해석하였다. 경계조건들은 미지의 계수를 구하기 위하여 이용하였고, 저항 경계조건은 저항띠 위의 접선성분의 자계와 표면전류밀도와의 관계를 위해 적용하였고, 저항띠에 유도되는 전류밀도는 저항띠 영역의 두 경계면에서 자계의 차이에 의해 계산하였다. 저항띠의 표면에 유도 전류 밀도는 자계의 두 경계면의 위와 아래 차이에 의해 계산하였다. 저항띠의 균일저항율, 폭과 주기, 유전층의 비유전율과 두께 및 입사각에 대해 정규화된 기하광학적 반사전력을 계산하였다. 수치결과들은 기존의 FGMM (fourier galerkin moment method)를 이용한 수치해석 결과들과 비교하여 매우 잘 일치하였다.
더보기In this paper, the solutions of TE(transverse electric) scattering problems by a resistive strip grating over a grounded dielectric layer are analyzed by applying the PMM(point matching method) known as a numerical method of electromagnetic fileld. The boundary conditions are applied to obtain the unknown field coefficients and the resistive boundary condition is used for the relationship between the tangential magnetic field and the induced surface current density on the resistive strip. The induced surface current density of resistive strip is obtained by difference of the up and down of the magnetic field in two boundary areas of the resistive strip. The numerical results for reflected power of zeroth order mode analyzed by according as the resistivity, the width and spacing of resistive strip, the relative permittivity and thickness of dielectric layer, and incident angles. The numerical results shown in good agreement compared to those of the existing papers using FGMM(fourier galerkin moment method).
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