KCI우수등재
다항 회귀 분석을 이용한 3차원 비석 데이터 내 글자 새김 추출법
저자
발행기관
학술지명
전자공학회논문지(Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers )
권호사항
발행연도
2019
작성언어
Korean
주제어
등재정보
KCI우수등재
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
73-80(8쪽)
KCI 피인용횟수
0
제공처
소장기관
본 논문에서는 다항 회귀 분석을 이용한 3차원 데이터에서의 비석 내 글자 새김 추출법을 제안한다. 비석의 거친 표면 특성으로 인해, 기존의 방법들이 글자 새김 뿐 아니라 많은 잡음이 함께 오검출되는 문제가 있다. 제안하는 방법에서는 이와 같이 검출된 영역을 새김 후보 영역으로 판단하고, 각 영역에 대해 획에 의한 새김인지를 자세히 판별함으로써 잡음 영역을 제거해 나가게 된다. 금석문은 보통 음각으로 새겨져 운하(canal)와 같은 형태를 가지는데, 이러한 운하의 단면 모양은 대칭적인 2차 곡선의 생김새와 유사하다. 따라서 제안하는 방법에서는 각 새김 후보 영역 내 여러 점 위치에서 해당 점을 포함한 단면 모양을 얻고, 이를 다항 회귀 분석을 통해 2차 곡선으로 근사화한 후, 단면과의 RMSE 오차를 계산한다. 이후 새김 후보 영역 내 얻어진 평균 오차가 큰 경우 잡음으로 판단하여, 제거함으로써 정확도가 높은 새김만을 추출하게 된다. 실험을 통해 제안하는 방법이 고르지 않은 거친 표면에서도 금석문을 명확하게 추출함을 보였고, F1 score 성능 비교를 통해 기존에 제안된 방법들보다 평균 22% 우수한 성능을 가지는 것을 확인하였다.
더보기In this paper, we propose a method to extract reliefs carved on stone monuments by analyzing 3-D scan data using polynomial regression. Due to the rough surface properties of the monument, conventional methods extract not only reliefs of characters, but also even a lot of noisy dents. The reliefs are usually engraved and shaped like a canal. The cross-sectional shape of this canal can be approximated with a symmetrical quadratic curve. In the proposed method, the regions including reliefs and noises are initially obtained using the conventional methods. The regions are regarded as relief candidate regions. For each candidate region, several cross sections of the region are reconstructed. Then, we evaluate how well the cross section is approximated by a quadratic curve in terms of root mean square error (RMSE). If the average RMSE obtained in the candidate region is large, it is classified as noise and removed. The remaining regions with low average RMSE are extracted as relief. Experimental results show that the proposed method clearly extracts the relief from the uneven rough surface, and the performance of the proposed method is 22% higher than that of the conventional methods in terms of F1 scores.
더보기분석정보
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2023 | 평가예정 | 계속평가 신청대상 (등재유지) | |
2018-01-01 | 평가 | 우수등재학술지 선정 (계속평가) | |
2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2014-12-11 | 학술지명변경 | 외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea -> Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers | KCI등재 |
2014-01-21 | 학회명변경 | 영문명 : The Institute Of Electronics Engineers Of Korea -> The Institute of Electronics and Information Engineers | KCI등재 |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2005-10-17 | 학술지명변경 | 한글명 : 대한전자공학회 논문지 -> 전자공학회논문지 | KCI등재 |
2005-05-27 | 학술지등록 | 한글명 : 대한전자공학회 논문지외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea | KCI등재 |
2005-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2002-07-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
2000-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.27 | 0.27 | 0.25 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.22 | 0.19 | 0.427 | 0.09 |
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