KCI등재
SCIE
SCOPUS
Development of the vapor film thickness correlation in porous corrosion deposits on the cladding in PWR
저자
Shen Yuan (College of Nuclear Science and Technology, Harbin Engineering University) ; Duan Zhengang (Science and Technology on Reactor System Design Technology Laboratory, Nuclear Power Institute of China, Chengdu, 610041, Sichuan Province, China) ; Lu Chuan (Science and Technology on Reactor System Design Technology Laboratory, Nuclear Power Institute of China, Chengdu, 610041, Sichuan Province, China) ; Ji Li (College of Nuclear Science and Technology, Harbin Engineering University) ; Jiao Caishan (College of Nuclear Science and Technology, Harbin Engineering University) ; Hou Hongguo (College of Nuclear Science and Technology, Harbin Engineering University) ; Chao Nan (College of Nuclear Science and Technology, Harbin Engineering University) ; Zhang Meng (College of Nuclear Science and Technology, Harbin Engineering University) ; Zhou Yu (College of Nuclear Science and Technology, Harbin Engineering University) ; Gao Yang (College of Nuclear Science and Technology, Harbin Engineering University) 연구자관계분석
발행기관
학술지명
Nuclear Engineering and Technology(Nuclear Engineering and Technology)
권호사항
발행연도
2022
작성언어
English
주제어
등재정보
KCI등재,SCIE,SCOPUS
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
4798-4808(11쪽)
DOI식별코드
제공처
The porous corrosion deposits (known as CRUD) adhered to the cladding have an important effect on the heat transfer from fuel rods to coolant in PWRs. The vapor film is the main constituent in the two-phase film boiling model. This paper presents a vapor film thickness correlation, associated with CRUD porosity, CRUD chimney density, CRUD particle size, CRUD thickness and heat flux. The dependences of the vapor film thickness on the various influential factors can be intuitively reflected from this vapor film thickness correlation. The temperature, pressure, and boric acid concentration distributions in CRUD can be well predicted using the two-phase film boiling model coupled with the vapor film thickness correlation. It suggests that the vapor thickness correlation can estimate the vapor film thickness more conveniently than the previously reported vapor thickness calculation methods.
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