원형대칭 빛살 Z-스캔 방법에 의한 광학적 비선형 굴절율 측정 = Measurements of optical nonlinear refractive index through the Z-scan method with circular symmetric beam
저자
김기훈 ; 임용식 ; 박종대 ; 김칠민 ; 조창호 ; Kim, Gi-Hun ; Im, Yong-Sik ; Park, Jong-Dae ; Kim, Chil-Min ; Jo, Chang-Ho
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
1995
작성언어
Korean
주제어
자료형태
학술저널
수록면
11-17(7쪽)
제공처
미소 반도체 $Bil_3$ 콜로이드의 광학적 비선형 굴절율을 원형 대칭 빛살을 사용한 Z 스캔 방법으로 측정하였다. 파장 $0.532\mum$, 펄스폭 20ns에서 비선형 굴절율은 주로 열적 요인에 의한 것이었으며, 그 크기는 -1.53 x $10^12($cm^2/W) 이었고, 비선형 흡수율 크기는 7.1 x $10^8$ (cm/W) 이었다.
더보기The optical nonlinear refractive index of $Bil_3$ semiconductor microcluster colloid has been measured by the Z-scan method with circular symmetric beam. The value of nonlinear refractive index was -1.53 x $10^12($cm^2/W) at $0.532\mum$and the nonlinearities were mainly due to thermal effect induced by 20 ns laser pulse. And the absorption coefficient was measured to be -$10^8$(cm/W)
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