KCI등재
SCOPUS
플라즈마분자선에피탁시법으로 성장한 산화비스무스아연 박막의 구조특성 = Structural Characterization of Bismuth Zinc Oxide Thin Films Grown by Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy
저자
임동석 (충남대학교) ; 신은정 (충남대학교) ; 임세환 (충남대학교) ; 한석규 (충남대학교) ; 이효성 (충남대학교) ; 홍순구 (충남대학교) ; 정명호 (한국과학기술원) ; 이정용 (한국과학기술원) ; 조형균 (성균관대학교) ; Lim, Dong-Seok ; Shin, Eun-Jung ; Lim, Se-Hwan ; Han, Seok-Kyu ; Lee, Hyo-Sung ; Hong, Soon-Ku ; Joeng, Myoung-Ho ; Lee, Jeong-Yong ; Cho, Hyung-Koun ; Yao, Takafumi
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2011
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Korean
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KCI등재,SCOPUS,ESCI
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학술저널
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563-567(5쪽)
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We report the structural characterization of $Bi_xZn_{1-x}O$ thin films grown on c-plane sapphire substrates by plasma-assisted molecular beam epitaxy. By increasing the Bi flux during the growth process, $Bi_xZn_{1-x}O$ thin films with various Bi contents (x = 0~13.17 atomic %) were prepared. X-ray diffraction (XRD) measurements revealed the formation of Bi-oxide phase in (Bi)ZnO after increasing the Bi content. However, it was impossible to determine whether the formed Bi-oxide phase was the monoclinic structure ${\alpha}-Bi_2O_3$ or the tetragonal structure ${\beta}-Bi_2O_3$ by means of XRD ${\theta}-2{\theta}$ measurements, as the observed diffraction peaks of the $2{\theta}$ value at ~28 were very close to reflection of the (012) plane for the monoclinic structure ${\alpha}-Bi_2O_3$ at 28.064 and the reflection of the (201) plane for the tetragonal structure ${\beta}-Bi_2O_3$ at 27.946. By means of transmission electron microscopy (TEM) using a diffraction pattern analysis and a high-resolution lattice image, it was finally determined as the monoclinic structure ${\alpha}-Bi_2O_3$ phase. To investigate the distribution of the Bi and Bi-oxide phases in BiZnO films, elemental mapping using energy dispersive spectroscopy equipped with TEM was performed. Considering both the XRD and the elemental mapping results, it was concluded that hexagonal-structure wurtzite $Bi_xZn_{1-x}O$ thin films were grown at a low Bi content (x = ~2.37 atomic %) without the formation of ${\alpha}-Bi_2O_3$. However, the increased Bi content (x = 4.63~13.17 atomic %) resulted in the formation of the ${\alpha}-Bi_2O_3$ phase in the wurtzite (Bi)ZnO matrix.
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2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2005-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | KCI등재 |
2002-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | KCI등재 |
1999-07-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
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2016 | 0.15 | 0.15 | 0.14 |
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0.14 | 0.13 | 0.255 | 0.03 |
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