병렬 테스트를 위한 Exhaustive 테스트 패턴 생성 = Exhaustive Test Pattern Generation for Parallel Testing
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발행연도
1999
작성언어
Korean
KDC
008.000
자료형태
학술저널
수록면
17-30(14쪽)
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본 논문은 Exhaustive 테스트 방법을 이용 중에 분할 기법을 이용하여 병렬 테스트 가능한 테스트 기법을 제안한다. 제안된 방법은 Exhautive 테스트의 단점인 테스트 수행시간을 줄일 수 있으며, 함수적인 분할 기법을 이용하여 기존 선형적으로 테스트하던 방법을 병렬적으로 테스트할 수 있음을 보여준다. 테스트 패턴 생성을 위해서는 함수 레벨의 기법을 이용하며, 테스트 패턴 생성에는 부울 미분 방법을 사용한다. 또한 이를 이용하여 병렬적으로 삽입할 수 있는 테스트 패턴을 자동적으로 생성하게 된다.
In recent years the complexity of digital systems has increased dramatically. Although semiconductor manufacturers try to ensure that their products are reliable, it is almost impossible not to have faults somewhere in a system at any given time. As complexity of circuits increases, more organized and automated methods for test generation become necessary. Up to now, however, most of popular and extensive methods for test generation may be those which sequentially produce an output for an input pattern. They inevitably require a lot of time to search each fault in a system. This paper generates test patterns through the partition method among those using the exhaustive method, and designs and implements a method that can discover faults earlier than other ones proposed ever by inserting a pattern in parallel.
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