KCI우수등재
SCOPUS
Application of Regularization Method to Angle - resolved XPS Data
저자
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
1996
작성언어
Korean
등재정보
KCI우수등재,SCOPUS,ESCI
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
99-106(8쪽)
제공처
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각분해 X-선광전자분광법 데이터로부터 화학종의 깊이분포에 대한 정보를 얻기 위한 두가지 종류의 regularization 방법 (singular system과 HMP 방법)을 연구하였다. 두 방법은 매우 다른 알고리즘을 채택하고 있지만 정성적으로 유사한 결과를 보였다. 시뮬레이션을 통하여 ARXPS 데이터에 regularization 방법을 적용 하였을 때 복잡한 형태의 깊이분포를 가진 시료에 대하여 유용함을 알 수 있었다. 이방법으로부터 상당한 양의 실험오차를 가지고 있는 데이터로부터 의미 있는 깊이분포를 얻을 수 있었다. generalized cross-validation 방법을 이용하여 ARXPS 데이터로부터 regularization 방법에서 중요한 변수인 smoothing parameter 값의 최적치를 자동으로 구하도록 하였다.
더보기Two types of regularization method (singular system and HMP approaches) for generating depth-concentration profiles from angle-resolved XPS data were evaluated. Both approaches showed qualitatively similar results although they employed different numerical algorithms. The application of the regularization method to simulated data demonstrates its excellent utility for the complex depth profile system. It includes the stable restoration of the depth-concentration profiles from the data with considerable random error and the self choice of smoothing parameter that is imperative for the successful application of the regularization method. The self choice of smoothing parameter is based on generalized cross-validation method which lets the data themselves choose the optimal value of the parameter.
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