KCI등재
SCI
SCIE
SCOPUS
Effect of the Oxygen Flux Ratio on the Structural and the Optical Properties of Silver-oxide Films Deposited by Using the Direct-current Reactive Magnetron Sputtering Method
저자
Xiao-Yong Gao (Zhengzhou University) ; Hong-Liang Feng (Zhengzhou University) ; Zeng-Yuan Zhang (Zhengzhou University) ; Jiao-Min Ma (Zhengzhou University) ; Meng-Ke Zhao (Zhengzhou University) ; Chao Chen (Zhengzhou University) ; Jin-Hua Gu (Zhengzhou University) ; Shi-E Yang (Zhengzhou University) ; Yong-Sheng Chen (Zhengzhou University) ; Jing-Xiao Lu (Zhengzhou University)
발행기관
학술지명
권호사항
발행연도
2011
작성언어
English
주제어
등재정보
KCI등재,SCI,SCIE,SCOPUS
자료형태
학술저널
수록면
243-247(5쪽)
KCI 피인용횟수
2
제공처
Using values of the oxygen flux ratio (OFR = [O2]/[Ar]) ranging from 0 to 0.5, authors deposited a series of silver-oxide (Ag_xO) films on glass substrates by direct-current reactive magnetron sputtering (DC sputtering) at a substrate temperature of 150 ℃. The effect of the OFR on the film’s structural and optical properties was systematically investigated by using X-ray diffractometry, scanning electron microscopy and spectrophotometry. The Ag_xO films deposited clearly show an evolution of the film’s phase structure from the biphased (Ag + Ag_2O) structure to the biphased (AgO + Ag_2O) structure and then to the single-phased (Ag_2O) structure as value of the OFR increases. Accordingly, the film’s surface morphology, related to the film’s crystalline structure, clearly changes from a loose and porous surface structure to a compact surface structure and then to a pyramid-like surface structure with increasing value of the OFR. The novel porous structure may be attributed to the interruption of the silver’s growth course by the AgO on the film’s surface. Notably, a single-phased Ag_2O film is deposited by DC-sputtering at OFR = 0.5 due to the dual effects of thermal decomposition of the AgO phase and a combination reaction of AgO and Ag to Ag_2O. The oscillations both in the film’s reflectivity and transmissivity spectra are strengthened with increasing OFR, indicating an evolution from the metallic behavior of the biphased (Ag + Ag_2O) film to the dielectric behavior of the biphased (Ag_2O + AgO) film and the single-phased Ag2O film. The fitted optical absorption edges of the Ag_2O and the Ag_xO films deposited at values of the OFR of 0.5 and 0.33 are approximately 2.43 eV and 2.34 eV, respectively. The absorption edges are closely related to the direct interband transitions.
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2000-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | KCI후보 |
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
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2016 | 0.47 | 0.15 | 0.31 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
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