KCI등재
플라스틱 필름 기판에 적용 가능한 AMLCD 구동 금속-유전체-금속 형태의 박막 다이오드에 관한 연구 = Characteristics of Metal-Insulator-Metal Diode on Plastic Film for AM-LCD Driving
저자
발행기관
학술지명
電子工學會論文誌 IE (Industry electronics)(Journal of the Institute of Electronics Engineers of Korea)
권호사항
발행연도
2003
작성언어
Korean
등재정보
KCI등재
자료형태
학술저널
발행기관 URL
수록면
1-7(7쪽)
KCI 피인용횟수
0
제공처
본 논문에서는 실험적으로 연구되어온 다양한 전극 금속을 이용한 양극산화에 의한 고품질의 Ta2O3 박막을 사용하였다. Ta2O3 박막의 구조 특성과 금속과 Ta2O3의 접촉 전류-전압(I-V) 특성을 측정하였다. 플라스틱 기판을 사용한 MIM 소자는 적은 누설전류 특성(10-6 A/cm2 at 1MV/cm)과 적정한 항복전압(4-7 MV/cm)을 나타내었다. 전류-전압(I-V) 특성곡선의 변화와 플라스틱 기판에서의 MIM 소자의 도전구조는 전기적 측정 결과와 누설전류 도전구조에 기반을 두고 분석되었다. 소자의 측정된 전기적, 구조적 특성은 저온 양극산화에 의한 Ta2O3 박막이 정보 디스플레이 평판소자에 적용 가능하다는 것으로 잘 나타내고 있다. 따라서 플라스틱 기반의 전자소자는 우수한 성능을 가지고 있고 차세대 전자제품에 대체 재료로 사용될 것으로 기대된다.
더보기In this paper, high quality Ta2O5 thin films prepared by anodic oxidation with various top electrode metals were studied experimentally. The investigated subjects are the structural properties of Ta2O5 films, the microstructure of Ta2O5, the current-voltage (I-V) characteristics of metal/ Ta2O5 contacts. The MIM devices fabricated on polymer substrates exhibit low leakage current characteristics (below 10-6 A/cm2at 1MV/cm) and reasonable breakdown voltage (4-7 MV/cm) with a uniformity of 93%. The current-voltage (I-V) behaviors and conduction mechanisms of MIM devices on polymer substrates are discussed based on the results of electrical measurements and conductin mechanism of the leakage current. The measured electrical and mechanical properties of the devices show well that the low-temperature anodized Ta2O5 film is applicable to the information display panels. Thus it is believed that the plastic-based electron devices have acceptable performance and they might replace current electronic devices with new paradigm products.
더보기분석정보
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2014-01-21 | 학회명변경 | 영문명 : The Institute Of Electronics Engineers Of Korea -> The Institute of Electronics and Information Engineers | |
2012-09-01 | 평가 | 학술지 통합(등재유지) | |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지(등재유지) | KCI등재 |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지(등재유지) | KCI등재 |
2007-10-04 | 학술지명변경 | 한글명 : 전자공학회논문지 - IE</br>외국어명 : The institute of Electronics Engineers of korea | KCI등재 |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지(등재유지) | KCI등재 |
2006-03-24 | 학술지명변경 | 한글명 : 전자공학회논문지 - IE</br>외국어명 : The institute of Electronics Engineers of korea | KCI등재 |
2005-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지(등재유지) | KCI등재 |
2002-07-01 | 평가 | 등재학술지 선정(등재후보2차) | KCI등재 |
2000-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정(신규평가) | KCI후보 |
서지정보 내보내기(Export)
닫기소장기관 정보
닫기권호소장정보
닫기오류접수
닫기오류 접수 확인
닫기음성서비스 신청
닫기음성서비스 신청 확인
닫기이용약관
닫기학술연구정보서비스 이용약관 (2017년 1월 1일 ~ 현재 적용)
학술연구정보서비스(이하 RISS)는 정보주체의 자유와 권리 보호를 위해 「개인정보 보호법」 및 관계 법령이 정한 바를 준수하여, 적법하게 개인정보를 처리하고 안전하게 관리하고 있습니다. 이에 「개인정보 보호법」 제30조에 따라 정보주체에게 개인정보 처리에 관한 절차 및 기준을 안내하고, 이와 관련한 고충을 신속하고 원활하게 처리할 수 있도록 하기 위하여 다음과 같이 개인정보 처리방침을 수립·공개합니다.
주요 개인정보 처리 표시(라벨링)
목 차
3년
또는 회원탈퇴시까지5년
(「전자상거래 등에서의 소비자보호에 관한3년
(「전자상거래 등에서의 소비자보호에 관한2년
이상(개인정보보호위원회 : 개인정보의 안전성 확보조치 기준)개인정보파일의 명칭 | 운영근거 / 처리목적 | 개인정보파일에 기록되는 개인정보의 항목 | 보유기간 | |
---|---|---|---|---|
학술연구정보서비스 이용자 가입정보 파일 | 한국교육학술정보원법 | 필수 | ID, 비밀번호, 성명, 생년월일, 신분(직업구분), 이메일, 소속분야, 웹진메일 수신동의 여부 | 3년 또는 탈퇴시 |
선택 | 소속기관명, 소속도서관명, 학과/부서명, 학번/직원번호, 휴대전화, 주소 |
구분 | 담당자 | 연락처 |
---|---|---|
KERIS 개인정보 보호책임자 | 정보보호본부 김태우 | - 이메일 : lsy@keris.or.kr - 전화번호 : 053-714-0439 - 팩스번호 : 053-714-0195 |
KERIS 개인정보 보호담당자 | 개인정보보호부 이상엽 | |
RISS 개인정보 보호책임자 | 대학학술본부 장금연 | - 이메일 : giltizen@keris.or.kr - 전화번호 : 053-714-0149 - 팩스번호 : 053-714-0194 |
RISS 개인정보 보호담당자 | 학술진흥부 길원진 |
자동로그아웃 안내
닫기인증오류 안내
닫기귀하께서는 휴면계정 전환 후 1년동안 회원정보 수집 및 이용에 대한
재동의를 하지 않으신 관계로 개인정보가 삭제되었습니다.
(참조 : RISS 이용약관 및 개인정보처리방침)
신규회원으로 가입하여 이용 부탁 드리며, 추가 문의는 고객센터로 연락 바랍니다.
- 기존 아이디 재사용 불가
휴면계정 안내
RISS는 [표준개인정보 보호지침]에 따라 2년을 주기로 개인정보 수집·이용에 관하여 (재)동의를 받고 있으며, (재)동의를 하지 않을 경우, 휴면계정으로 전환됩니다.
(※ 휴면계정은 원문이용 및 복사/대출 서비스를 이용할 수 없습니다.)
휴면계정으로 전환된 후 1년간 회원정보 수집·이용에 대한 재동의를 하지 않을 경우, RISS에서 자동탈퇴 및 개인정보가 삭제처리 됩니다.
고객센터 1599-3122
ARS번호+1번(회원가입 및 정보수정)